发明名称 高亮度超光洁检测装置
摘要 本实用新型涉及一种高亮度超光洁检测装置,本实用新型包括发光源(1),非球面聚光镜(2),球面聚光镜(6),投影物镜(3);所述的发光源(1)经非球面聚光镜(2)和球面聚光镜(6)通过投影物镜(3)指向被照物体;所述的非球面聚光镜(2)的截面X和Y满足方程式Y<SUP>2</SUP>=AX-BX<SUP>2</SUP>+CX<SUP>3</SUP>。本实用新型的有益效果是:如果采用的灯泡是250W/24V,有效光通量为2500流明以上;150 W/24V,有效光通量为2000流明以上;而局部的光照度可达到200,000勒克斯,光线均匀度为60%以上,能清晰地观察不同大小工件的表面质量,如玻璃表面划痕,气泡,条纹,麻点,油迹,以及集成电路模块的各类疵病一览无遗,达到了检测的目的。
申请公布号 CN2615662Y 申请公布日期 2004.05.12
申请号 CN03231617.8 申请日期 2003.05.28
申请人 上海申菲激光光学系统有限公司 发明人 应永伟;周德林
分类号 G01N21/84;G01N21/88 主分类号 G01N21/84
代理机构 上海开祺专利代理有限公司 代理人 李兰英
主权项 1.一种高亮度超光洁检测装置,包括发光源(1),非球面聚光镜(2),球面聚光镜(6),投影物镜(3);所述的发光源(1)经非球面聚光镜(2)和球面聚光镜(6)通过投影物镜(3)指向被照物体;其特征在于:所述的非球面聚光镜(2)的截面X和Y满足方程式Y2=AX-BX2+CX3;所述的系数A在大于等于40和小于等于50之间,系数B在大于0和小于等于1之间,系数C在大于0和小于等于0.002之间;所述的X为横向值,Y为纵向值;其直径(2Y)在4厘米到10厘米之间。
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