发明名称 |
触点结构及制造方法,薄膜晶体管阵列面板及制造方法 |
摘要 |
在衬底上形成栅极线。依次淀积栅极绝缘层,本征a-Si层,非本征a-Si层,Cr构成的下膜,和含Al金属构成的上膜。在上膜上形成光刻胶,光刻胶在布线区域上具有较厚的第一部分,在沟道区域上具有较薄的第二部分。湿蚀刻在其余区域上的上膜,与光刻胶的第二部分一起干蚀刻其余区域上的下膜和a-Si层。除去沟道区域上的上膜、下膜、和非本征a-Si层。用湿蚀刻除去沟道区域上的上膜和下膜,除去沟道区域上的上膜后,再除去光刻胶的第一部分。 |
申请公布号 |
CN1495478A |
申请公布日期 |
2004.05.12 |
申请号 |
CN03164805.3 |
申请日期 |
2003.09.02 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
白范基;崔权永;李荣埈;姜奉周;林承泽;孔香植;金垣炷 |
分类号 |
G02F1/133;H01L21/00;H01L29/786;H01L21/336;G03F7/00 |
主分类号 |
G02F1/133 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
李晓舒;魏晓刚 |
主权项 |
1.一种半导体器件的触点结构,该触点结构包括;可干蚀刻的下导电膜;形成在下膜上的含Al或Al合金的上导电膜,上膜具有位于下膜上的边缘;绝缘体,其具有露出至少一部分下膜的接触孔;和IZO层,其形成在绝缘体上,通过接触孔接触下膜。 |
地址 |
韩国京畿道 |