| 主权项 |
1.一种空间位置记忆广度测试仪,可度量孩子对空 间方位的知觉能力及短时间记忆能力之测试仪,此 测试仪系具一本体,于前述本体上具有一开始键及 光源测试区,在前述开始键按下后,起动本体内部 之电路,此电路即可控制光源测试区呈规则或不规 则跳跃点亮而熄灭,此时受测者必须记下光源测试 区亮过光源位置后,立即按下光源测试区,若是受 测者按错时,光源测试区皆全被点亮,此时受测者 无法再进行测试,必须重新再将开始键下后,即可 重新测试。2.如申请专利范围第1项所述之空间位 置记忆广度测试仪,其中,该光源测试区系由复数 按键所构成。3.如申请专利范围第1或2项所述之空 间位置记忆广度测试仪,其中,该光源测试区之每 一按键内含有一被点亮之发光元件。4.一种空间 位置记忆广度测试仪,用以配置于测试仪本体内部 之控制电路,此控制电路包括有: 一微处理单元,系为此电路之运作核心; 一乱数产生单元,系输出端与上述之微处理单元连 接,用以产生乱数信号输出; 一空间显示单元,其输入端与上述之微处理单元连 接,系控制光源位置显示; 一空间位置按键单元,该输出端接与上述微处理单 元连接; 俾藉,该乱数产生单元输出信号至微处理单元上, 该微处理单元同时驱动空间显示单元,受测者须立 即记下后并按下空间位置按键,可以依顺序或不依 顺序按下被点亮过之按键,若是按对后,可持续按 下一个被点亮过之按键,若是按错,该空间位置每 一个按键皆被点亮,此时受测者无法再按下一个被 点亮的按键,此时必须重新测试。5.如申请专利范 围第4项所述之空间位置记忆广度测试仪,其中,该 空间位置按键单元,系由光源测试区之每一按键所 构成。6.如申请专利范围第4项所述之空间位置记 忆广度测试仪,其中,该功能选择单元之输出端与 上述之微处理单元连接,可以选择测试依亮灯出现 顺序逐一按下按键;或者不用照亮灯顺序,仅需将 出现过的亮灯按下按键。7.如申请专利范围第4项 所述之空间位置记忆广度测试仪,其中,更具一显 示单元。图式简单说明: 第1图,系本创作之空间位置记忆广度测试仪外观 立体示意图。 第2图,系本创作之电路方块示意图。 第3图,系为第2图之电路线路示意图。 |
