发明名称 用以测量低阻抗之系统及方法
摘要 一种方法(20),其包含产生一组第一电流位准,量测该第一电流位准(22),产生一组第二电流位准(22),并且量测该第二电流位准(22)。该方法(20)进一步地包含重复交替地产生该第一和第二电流位准(22)以产生一组周期电流波形(26),并且多次地量测在一系统中至少一埠之电压以得到多组电压量测(27)。该等多组电压量测被平均。该方法进一步地包含以一预定数目之不同时脉频率(44)重复交替地产生该第一和第二电流位准,决定一组平均电压量测的傅立叶成分以决定时脉频率相关杂讯(46),移除该时脉频率相关杂讯以产生一组被滤波的平均电压(46),并且利用将被滤波的平均电压之傅立叶成分除以一组被具有交替的第一和第二电流位准之周期电流波形的傅立叶成分而决定一组阻抗(47)。
申请公布号 TW200406587 申请公布日期 2004.05.01
申请号 TW092114031 申请日期 2003.05.23
申请人 惠普研发公司 发明人 伊萨克 肯拓罗维希;克里斯多弗L 伍吉顿;史蒂芬C 洛特;詹姆斯J 圣劳伦
分类号 G01R27/08 主分类号 G01R27/08
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国