发明名称 半导体元件以及其制造方法
摘要 在一闸极电极内,于一第一多晶矽膜之上,设置一具有关于其定位的预定矽晶面取向且晶径小于第一多晶矽膜之第二多晶矽膜,即便在第二多晶矽膜内,有局部存在之于形成一矽化物层时矽化反应速度不同的部分,该第二多晶矽膜的未反应部分之矽化反应可发生得较第一多晶矽膜之矽化反应快速。
申请公布号 TW200406830 申请公布日期 2004.05.01
申请号 TW092125514 申请日期 2003.09.16
申请人 飞索股份有限公司 发明人 早川幸夫
分类号 H01L21/28;H01L29/78;H01L21/336 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国