| 摘要 |
本发明之目的在于提供可防止电路面积之增加而不致于降低故障检出率之半导体装置及其设计方法。本发明之半导体装置之特征在于包含第一、第二动作模态，且包含讯号线40，其系在前述第二动作模态时传送指令讯号ST1者；第一触发器20–1，其系在前述第一动作模态中，与时钟同步地施行动作，在前述第二动作模态中，依照前述指令讯号ST1施行动作者；切换电路22–1，其系在前述第二动作模态中响应前述指令讯号ST1而使第一触发器20–1之输入传输至输出者；及第二触发器30–1、30–2，其系在前述第一动作模态中，与前述时钟CLK同步地施行动作，在前述第二动作模态中，选择测试图案，以取代前述第一动作模态中之输入讯号D，并与前述时钟CLK同步地施行动作者。 |
