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发明名称 Kontaktgabevorrichtung fuer Pruefzwecke an Prueflingen aus Halbleitermaterial
摘要
申请公布号 DE1120026(B) 申请公布日期 1961.12.21
申请号 DE1959P023357 申请日期 1959.08.12
申请人 PHILCO CORPORATION 发明人 SHINN WILLIAM TORREY
分类号 H01L21/00;H01L21/288;H01L21/60 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人
主权项
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