发明名称 智能型测试机
摘要 一种智能型测试机,将测试机连接至探测记录器,用以记录每一个晶片样本的测试结果,本发明的智能型测试机由于可记录所有晶片样本的测试结果,在环境改变或者其它因素使得测试机的测试结果呈现不通过时,测试工程师可根据测试结果,对晶片样本进行再次的测试,用以降低由于测试机误判所造成的损失。
申请公布号 CN1147927C 申请公布日期 2004.04.28
申请号 CN01110296.9 申请日期 2001.04.06
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 江宏泽
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 刘晓峰
主权项 1.一种智能型测试机,其特征在于:所述智能型测试机包括:一带式传输机封装测试机,用以测试多个晶片样本;一硬件接口,该硬件接口连接于所述带式传输机封装,通过所述带式传输机封装测试晶片样本,并获得相对应于所述各个晶片样本的多个测试结果,通过所述硬件接口送出这些测试结果;以及一个探测记录器,该探测记录器连接于所述硬件接口,用以接收并记录所述测试结果。
地址 台湾新竹
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