发明名称 | 智能型测试机 | ||
摘要 | 一种智能型测试机,将测试机连接至探测记录器,用以记录每一个晶片样本的测试结果,本发明的智能型测试机由于可记录所有晶片样本的测试结果,在环境改变或者其它因素使得测试机的测试结果呈现不通过时,测试工程师可根据测试结果,对晶片样本进行再次的测试,用以降低由于测试机误判所造成的损失。 | ||
申请公布号 | CN1147927C | 申请公布日期 | 2004.04.28 |
申请号 | CN01110296.9 | 申请日期 | 2001.04.06 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 江宏泽 |
分类号 | H01L21/66 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 刘晓峰 |
主权项 | 1.一种智能型测试机,其特征在于:所述智能型测试机包括:一带式传输机封装测试机,用以测试多个晶片样本;一硬件接口,该硬件接口连接于所述带式传输机封装,通过所述带式传输机封装测试晶片样本,并获得相对应于所述各个晶片样本的多个测试结果,通过所述硬件接口送出这些测试结果;以及一个探测记录器,该探测记录器连接于所述硬件接口,用以接收并记录所述测试结果。 | ||
地址 | 台湾新竹 |