| 发明名称 | 物质的分析方法 | ||
| 摘要 | 一种物质的分析方法，其特征在于，在成群存在且可发挥表面增强效果的疏液性微粒的分散相中，使分散性高于疏液性微粒的微粒以足以包覆该疏液性微粒群周围的浓度共存于其中而成的分散复合体上，接触含测定对象物质的流体，并用光学计测方法，分析测定对象物质。本发明的分析方法可应用于微量物质或低浓度物质的分析。 | ||
| 申请公布号 | CN1492995A | 申请公布日期 | 2004.04.28 |
| 申请号 | CN01823011.3 | 申请日期 | 2001.03.09 |
| 申请人 | 福冈隆夫 | 发明人 | 中村圭太郎;森康维 |
| 分类号 | G01N15/00 | 主分类号 | G01N15/00 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱丹 |
| 主权项 | 1.一种物质的分析方法，其特征在于，该方法包括：在成群存在且可发挥表面增强效果的疏液性微粒的分散相中，使分散性高于该疏液性微粒的微粒以足以包覆该疏液性微粒群周围的浓度共存于其中而成的分散复合体上，接触含有测定对象物质的流体，并利用光学计测方法分析测定对象物质。 | ||
| 地址 | 日本京都府 | ||