发明名称 METHOD FOR CORRECTING ASTIGMATISM, METHOD FOR DETERMINING ASTIGMATIC SENSITIVITY AND METHOD FOR EXPOSURE IN CHARGED PARTICLE BEAM ALIGNER
摘要
申请公布号 AU2003264482(A1) 申请公布日期 2004.04.19
申请号 AU20030264482 申请日期 2003.09.18
申请人 NIKON CORPORATION 发明人 HIROYASU SHIMIZU
分类号 H01J37/153;(IPC1-7):H01L21/027;H01J37/305;G03F7/20 主分类号 H01J37/153
代理机构 代理人
主权项
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