发明名称 Kompensationsbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
摘要 Die Erfindung betrifft ein Kompensationsbauelement, bei dem ein lateraler Abschnitt und wenigstens an einem Ende des lateralen Abschnittes ein schräg zur Oberfläche verlaufender Abschnitt einer Driftstrecke mit n- und p-leitenden Gebieten (6, 5) vollständig in einen Halbleiterkörper (1) ohne Trench eingebettet sind. Dabei wird der schräg verlaufende Abschnitt durch Ionenimplantation durch eine Implantationsmaske (2) mit schräger Kante (4) vorgenommen.
申请公布号 DE10245550(A1) 申请公布日期 2004.04.15
申请号 DE2002145550 申请日期 2002.09.30
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 PFIRSCH, FRANK
分类号 H01L29/06;H01L29/78 主分类号 H01L29/06
代理机构 代理人
主权项
地址