发明名称 |
用于工件的线性尺寸检查的测头、系统和方法 |
摘要 |
一种测头(T)包括一壳体(1),一带有探针并可相对壳体移动的臂(2),以及一诸如感应式位置传感器(5)的传感器。一电子识别器(27)固定在一与测头(T)连接的框架上,以便储存与测头有关的识别数据,例如与测头的结构和校准特征有关的信息,和/或在一适当的检测设备上进行的校准阶段中获得的补偿数值。 |
申请公布号 |
CN1145782C |
申请公布日期 |
2004.04.14 |
申请号 |
CN99803551.3 |
申请日期 |
1999.02.26 |
申请人 |
阿齐翁尼马坡斯公司 |
发明人 |
C·达尔阿列奥 |
分类号 |
G01B7/00;G01B7/012;G01D3/02 |
主分类号 |
G01B7/00 |
代理机构 |
上海专利商标事务所 |
代理人 |
吴明华 |
主权项 |
1.一种用于一工件(10)的线性尺寸检查的测头(T),包括:一带壳体(1)的支承结构;一臂部件,它可相对所述带壳体(1)的支承结构移动,并包括一臂(2);以及一探针(3),它连接在所述臂(2)上,与被检查的工件表面接触;以及传感装置(5,6,7),它与所述臂(2)与所述带壳体(1)的支承结构连接,并按照所述臂(2)相对所述带壳体(1)的支承结构的位置产生信号;其特征在于,所述测头还包括一带有电子识别器(27)的、以便储存与测头有关的识别数据的电子识别和储存单元(17),以及一供电子识别器用的基准和保护框架(19)。 |
地址 |
意大利本蒂佛格里奥 |