发明名称 使用荧光分析仪的水处理控制系统
摘要 本发明的目的是提供一种使用荧光分析仪的水处理控制系统,它利用荧光分析仪测定原水或处理水的相对荧光强度,利用由荧光分析仪的测定值,控制处理方法以降低三卤甲烷的生成能力。该使用荧光分析仪的水处理控制系统包括:向被处理水中注入注入剂的注入机构(4a)、测定被处理水相对荧光强度的荧光分析仪(7)、测定被处理水流量的流水流量计(6)、和根据荧光分析仪的测定值,求出降低三卤甲烷生成能力需要注入剂的注入率,利用该注入剂的注入率和流水流量计的流量,控制注入机构的控制装置(9),其中,注入剂是活性炭、氯、臭氧、凝集剂。
申请公布号 CN1145590C 申请公布日期 2004.04.14
申请号 CN01143365.5 申请日期 2001.11.30
申请人 株式会社东芝 发明人 村山清一;黑川太;金子政雄;居安巨太郎;田口健二;久保贵惠;环省二郎;平本昭;林巧;海贺信好
分类号 C02F9/04;G01N23/223;//(C02F9/04,1∶50,1∶28,1∶78,1∶52,1∶44) 主分类号 C02F9/04
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 孙敬国
主权项 1.一种使用荧光分析仪的水处理控制系统,其特征是包括以下部分,即:向被处理水中注入注入剂的注入机构、测定被处理水相对荧光强度的荧光分析仪、测定被处理水流量的流水流量计、和根据荧光分析仪的测定值,求出降低三卤甲烷生成能力需要注入剂的注入率,利用该注入剂的注入率和流水流量计的流量,控制注入机构的控制装置,其中,注入剂是活性炭、氯、臭氧、凝集剂。
地址 日本东京