发明名称 X射线CT装置以及测量CT值的方法
摘要 公开一种X射线CT(计算机层析成像)装置。该X射线CT装置包括对已注入对比剂的病人执行低剂量X射线扫描和高剂量X射线扫描的X射线提供部件。所收集的X射线投影数据被重构,以产生低剂量扫描和高剂量扫描的图像数据。在高剂量扫描之前的低剂量扫描中,连续获得多幅图像,其中ROI(感兴趣区)设置于给定位置。CT值计算部件连续计算ROI中的CT值,并且所计算的CT值作为时间密度曲线(TDC)来显示。操作员观察对比剂流入ROI的状态,并且确定起动高剂量X射线扫描的时间。
申请公布号 CN1488317A 申请公布日期 2004.04.14
申请号 CN03155425.3 申请日期 2003.09.05
申请人 株式会社东芝 发明人 池田佳弘;尾嵜真浩
分类号 A61B6/03 主分类号 A61B6/03
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 付建军
主权项 1.一种X射线计算机层析成像装置,包括:X射线源,配置以将X射线照射到待检查对象上;X射线检测部件,配置以检测穿过对象的X射线;驱动部件,配置以旋转环绕对象的X射线源和X射线检测部件中的至少一个;图像数据产生部件,配置以基于使用X射线检测部件的投影数据来产生图像数据;ROI设置部件,配置以在将对比剂注入到对象中之前在来自图像数据产生部件的第一图像数据中设置感兴趣区(ROI);CT值计算部件,配置以计算基于感兴趣区的位置信息在来自图像数据产生部件的第二图像数据中设置的感兴趣区中的计算机层析成像(CT)值,第二图像数据在将对比剂注入到对象中之后产生多次;以及CT值显示部件,配置以显示由CT值计算部件计算的CT值随时间的变化。
地址 日本东京都