发明名称 二十硼烷注入方法和系统
摘要 本发明提供一种将已电离的二十硼烷(B<SUB>20</SUB>H<SUB>X</SUB>)、三十硼烷(B<SUB>30</SUB>H<SUB>X</SUB>)和四十硼烷(B<SUB>40</SUB>H<SUB>X</SUB>)注入工件的方法,包括以下步骤:(i)使离子源(50)中的十硼烷汽化和电离以产生等离子体;(ii)通过源孔(126)引出等离子体内的已电离的二十硼烷、三十硼烷和四十硼烷,它们统称为“高次硼烷”,形成一个离子束;(iii)采用质量分析磁体(127)对离子束作质量分析,使已电离二十硼烷(B<SUB>20</SUB>H<SUB>X</SUB>)或其它高次硼烷中的一种通过;(iv)将已电离二十硼烷(B<SUB>20</SUB>H<SUB>X</SUB>)或一种其它高次硼烷注入工件。使十硼烷汽化和电离的步骤包括两个子步骤:(i)在汽化器(51)内使十硼烷汽化和(ii)在电离器(53)内电离已汽化的十硼烷。
申请公布号 CN1489639A 申请公布日期 2004.04.14
申请号 CN01822666.3 申请日期 2001.12.11
申请人 艾克塞利斯技术公司 发明人 A·S·佩雷尔
分类号 C23C14/48;H01L21/265;H01J27/08 主分类号 C23C14/48
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 肖春京
主权项 1.一种将电离的高次硼烷注入工件的方法,包括以下步骤:(i)使离子源(50)中的十硼烷汽化和电离,以产生等离子体;(ii)通过一源孔(126)引出等离子体中的已电离的高次硼烷,以形成一离子束;(iii)采用质量分析磁体(127)对离子束作质量分析,以使一种选定的已电离的高次硼烷通过;(iv)将选定的电离的高次硼烷注入工件内。
地址 美国马萨诸塞州