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发明名称 Testverfahren für Halbleiter und anisotroper Leiterfilm dazu
摘要
申请公布号 DE60003243(T2) 申请公布日期 2004.04.08
申请号 DE20006003243T 申请日期 2000.01.27
申请人 NITTO DENKO CORP., IBARAKI 发明人 YAMAGUCHI, MIHO;HOTTA, YUJI
分类号 H01R11/01;G01R1/04;G01R1/06;G01R1/073;G01R31/26;H01B5/16;H01L21/66;(IPC1-7):G01R1/073 主分类号 H01R11/01
代理机构 代理人
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