发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明揭示一种半导体装置及其制造方法,能够使封装背面设有外接端子的QFN(QuadFlatNon-leadedpackage:四侧面无导线表面安装型封装体)的安装精确度提升。QFN1的封装体3方面,在其表面侧的对角线方向上的2个角落部份上设有截角部8。由上述截角部8外露的托脚5b的一部份,设有具有圆形平面状的辨识标记15,用以在将QFN1安装于配线基板时,能够由封装体3的上方以光学方式检测出该辨识标记15。辨识标记15系藉由对构成托脚5b之金属板的一部份以蚀刻处理加以去除或以冲床加以冲切而成。
申请公布号 TW200405529 申请公布日期 2004.04.01
申请号 TW092108798 申请日期 2003.04.16
申请人 日立制作所股份有限公司;日立超爱尔 爱斯 爱系统股份有限公司 发明人 伊藤富士夫;铃木博通
分类号 H01L23/12 主分类号 H01L23/12
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本