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经营范围
发明名称
静电放电保护元件
摘要
一种用于提供MOSFET之半导体积体电路中之静电放电保护元件,包含一闸流体,及一触发二极体用以触发闸流体至通状态,其中,触发二极体提供一n型阴极高浓度杂质区,一p型阳极高浓度杂质区,及一闸极构制于二高浓度杂质区之间,闸极为与构成半导体积体电路之MOSFET之闸极相同之材料所制,及闸流体设有一p型高浓度杂质区,此形成阴极,及一n型高浓度杂质区,此形成阳极,及p型高浓度杂质区设置于p井中,并连接至一电阻器,及/或n型高浓度杂质区设置于一n井中,并连接至一电阻器。
申请公布号
TW200405541
申请公布日期
2004.04.01
申请号
TW092115858
申请日期
2003.06.11
申请人
夏普股份有限公司
发明人
东贤一;艾伯特 欧 亚当
分类号
H01L23/60
主分类号
H01L23/60
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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