| 主权项 |
1.一种场发射显示器显示属性之量测方法,该场发射显示器包括发射极之列与栏以及一阳极,该方法包括下列步骤:a)以扫瞄方式分别驱动每一列并量测被每一列吸引之电流,其中当每一列被驱动后便允许有一稳定时间;b)于一垂直空白期间量测一背景电流准位;c)藉由该背景电流准位修正该步骤a)之电流量测以产生已修正之电流量测;d)对多个显示框之多个已修正电流量测取平均以产生该场发射显示器所有列之已修正电流値之平均値;以及e)根据该已修正电流値之平均产生一记忆体常驻修正表。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该步骤a)包括下列步骤:a1)在一第一框,依序驱动奇数列并量测被每个奇数列吸引之该电流;a2)同步于该步骤a1),依序不驱动偶数列以产生该奇数列间的稳定时间;a3)在一第二框,依序驱动偶数列并量测被每个偶数列吸引之该电流;以及a4)同步于该步骤a3),依序不驱动奇数列以产生该偶数列间的稳定时间。3.如申请专利范围第1项所述之方法,另包括下列步骤:在一框之最后驱动列量测该场发射显示器之一RC衰减量函数;以及利用该RC衰减量函数进一步修正该记忆体常驻修正表之値。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该步骤a)至e)系在每次该场发射显示器被开启之起始与修正阶段进行。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该电流系在该步骤a)中该面板驱动该特定列时量测该特定列之电流被量测。6.如申请专利范围第1项所述之方法,更包括下列步骤:以渐次扫瞄方式分别驱动每一列以显示影像于该场发射显示器,其中该记忆体常驻修正表系用以调整每一列之相关亮度至一相同准位。7.如申请专利范围第6项所述之方法,其中藉由该记忆体常驻修正调整每一列之列驱动电压。8.如申请专利范围第6项所述之方法,其中藉由该记忆体常驻修正表调整每一列之列即时周期。9.如申请专利范围第1项所述之方法,另包括步骤f):以扫瞄方式分别驱动每一列以显示影像于该场发射显示器,其中该记忆体常驻修正表系用以调整每一列之相关亮度至一相同准位,其中该步骤f)包括下列步骤:f1)产生一周期性之修正讯号;f2)加入该修正讯号至一列驱动脉冲以产生一已修正列驱动脉冲,其中该列驱动脉冲系利用该修正表来调整;f3)利用该已修正列驱动脉冲来驱动该列之列即时周期;以及f4)藉由重复步骤f1)至f3)以产生该列之显示框。10.一种场发射显示器显示属性之量测方法,该场发射显示器包括发射极之列与栏以及一阳极,该方法包括下列步骤:a)产生一周期性之修正讯号;b)加入该修正讯号至一列驱动脉冲以产生一已修正列驱动脉冲;c)利用该已修正列驱动脉冲来驱动该列之列即时周期;以及d)藉由重复步骤a)至c)以产生该列之显示框;其中该修正讯号系用以隐藏显示亮度之非一致性。11.如申请专利范围第10项所述之方法,其中该步骤a)系利用一电子振荡电路进行。12.如申请专利范围第10项所述之方法,其中该修正讯号系一高频杂讯。13.如申请专利范围第10项所述之方法,其中该场发射显示器另包括一隔间墙,位于该阳极与该发射极间,其中该不均匀显示亮度系有关于位于该隔间墙附近之列。14.一种场发射显示器显示属性之量测方法,该场发射显示器包括发射极之列与栏以及一阳极,该方法包括下列步骤:a)存取一记忆体常驻修正表以取得一特定列之一列修正値,该修正表具有每列之个别修正値,该修正値系用以调整一列列之亮度以修正该列任何不均匀之亮度;b)将该特定列之该修正値应用至一列即时脉冲以产生一已修正列即时脉冲;c)利用该已修正列即时脉冲来驱动该特定列;以及d)藉由重复该步骤a)至c)以显示每一列之框。15.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该列即时脉冲系一电压讯号且其中该步骤b)包括下列步骤:改变一大礼帽脉冲之宽度,其中该大礼帽脉冲系根据该修正値而被应用至该列即时脉冲之振福。16.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该列即时脉冲系一电压讯号且其中该步骤b)包括下列步骤:根据该修正値改变该列即时脉冲之整个宽度。17.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该列即时脉冲系一电压讯号且其中该步骤b)包括下列步骤:根据该修正値改变该列即时脉冲之整个高度。18.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该记忆体常驻修正表系一查询表可藉由列数来索引,其包括每个列数之修正値。19.如申请专利范围第18项所述之方法,其中该记忆体常驻修正表储存有一高通滤波之修正表以提供一列列之亮度修正。20.如申请专利范围第14项所述之方法,其中该场发射显示器更包括一隔间墙,位于该阳极与该发射极间,其中该不均匀显示亮度系有关于位于该隔间墙附近之列。21.一种场发射显示器,包括:发射极之列与栏;一阳极;隔间墙,位于该阳极与该发射极间;一记忆体常驻修正表,用以提供每一列之个别修正値,该记忆体常驻修正表可提供一列列之亮度修正以补偿邻近该隔间墙之列之亮度变化;一修正电路,与该记忆体常驻修正表连结,用以提供该修正表之修正値至列即时脉冲来产生已修正之列即时脉冲;以及一驱动电路,与该修正电路连结,用以利用该已修正之列即时脉冲来驱动该列。22.一种场发射显示器内补偿亮度变化之方法,该场发射显示器包括发射极之列与栏以及一阳极,该方法包括下列步骤:a)藉由量测每一列之亮度产生该场发射显示器之一资料曲线并储存每一列之个别修正値;以及b)根据该资料曲线进行阴极发光过程以改变该列之物理特性进而补偿该资料曲线之亮度变化。23.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤b)包括下列步骤:根据该资料曲线之个别资料改变发光期间被驱动之个别列之时间量,以补偿该资料曲线之亮度变化。24.如申请专利范围第22项所述之方法,其中更包括下列步骤:重复步骤a)与b)。25.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤a)包括下列步骤:以光学方式量测每一列之亮度。26.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤a)包括下列步骤:以电子方式量测每一列之亮度。27.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤b)包括下列步骤:在需要补偿亮度变化之列内改变发射极之工作函数与形状。28.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤b)包括下列步骤:显示具有需要亮度修正之列之显示属性之发光图案。29.如申请专利范围第27项所述之方法,其中其中该步骤b)更包括下列步骤:在需要增加亮度之一氧气环境中显示发光图案。30.如申请专利范围第22项所述之方法,其中该步骤b)包括下列步骤:在需要增加亮度之一甲烷环境中显示发光图案。图式简单说明:第1图系简化的场发射显示器之剖面图;第2图系本发明一实施例之逻辑方块图,其绘示显示电路具有记忆体常驻查询表可提供一列列之亮度修正;第3A图系本发明一实施例之一时序图,其绘示当偶数列提供稳定时间时驱动并量测奇数列之时序关系;第3B图系本发明一实施例之一时序图,其绘示当奇数列提供稳定时间时驱动并量测偶数列之时序关系;第4图系本发明一实施例之流程图,其绘示产生具有一列列之亮度修正値之记忆体常驻查询表之步骤;第5图系本发明一实施例之流程图,其绘示场发射显示器内利用记忆体常驻查询表来提供亮度修正之显示步骤;第6图系本发明一实施例之显示电路之逻辑方块图,其绘示显示电路藉由引进高频杂讯进行隐藏式亮度修正;第7图系本发明一实施例之流程图,其绘示藉由引进高频杂讯进行隐藏式亮度修正之显示步骤;第8A图绘示一连串正常且未校正之列即时脉冲;第8B、8C、8D图绘示本发明之三个实施例之列即时脉冲调整与变形以提供一列列之亮度修正;第9图绘示记忆体常驻查询表包含各个列之亮度修正値;第10图系本发明一实施例之电流与列数之关系图,其绘示场发射显示器之未修正亮度曲线及已修正曲线;以及第11图系本发明一实施例之流程图,其绘示本发明利用阴极发光过程来修正场发射显示器内一列列的亮度变化之步骤。 |
