发明名称 Halbleiterinspektionssystem
摘要
申请公布号 DE69432737(T2) 申请公布日期 2004.04.01
申请号 DE19946032737T 申请日期 1994.11.14
申请人 HAMAMATSU PHOTONICS K.K., HAMAMATSU 发明人 OGURI, SHIGEHISA;INUZUKA, EIJI;SUZUKI, KOUJI;NAGATA, WATARU;HIRUMA, YASUSHI
分类号 G01N21/88;G01N21/956;G01R31/311;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88;H04N3/15 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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