PROCEDIMIENTO Y APARATO DE PALPADO DE MONTURAS DE GAFAS Y MAQUINA DE AMOLADO CORRESPONDIENTE.

摘要

La invención se refiere a un aparato detector (11) que comprende dos sensores (18, 27), de los que un sensor fino (18) soportado contra la base del surco del borde de una montura (1) alrededor de su periferia para determinar la forma espacial del mismo, y un segundo sensor (27) cuyo perfil se combina con el de un surco pulidor de biselado. El procedimiento consiste en la medición de la diferencia en penetración entre las puntas de los dos sensores en un punto común del surco, y la transmisión de los datos correspondientes a la máquina pulidora para controlar el deslizamiento del portador de cristales.