发明名称 |
可分离介质表层与深层信息的光学检测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种光学检测方法,特别涉及一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法。为实现非接触测量奠定了基础。它是由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上,经过接收单元处理后,由检测器完成检测;测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离;而且光学测头和被测样品组织是非接触的。在本发明中,入射单元和接收单元可以根据偏振法、挡光法、空间成像法、布儒斯特角法等不同的方法进行设置。 |
申请公布号 |
CN1485605A |
申请公布日期 |
2004.03.31 |
申请号 |
CN02129271.X |
申请日期 |
2002.09.29 |
申请人 |
天津市先石光学技术有限公司 |
发明人 |
徐可欣;邱庆军;苏翼雄 |
分类号 |
G01N21/21;G01N21/47;G01N21/55;A61B5/00 |
主分类号 |
G01N21/21 |
代理机构 |
天津市北洋有限责任专利代理事务所 |
代理人 |
王丽 |
主权项 |
1.一种可分离介质表层与深层信息的光学检测方法,由光源经过一个入射单元照射在被测样品组织上,经过接收单元处理后,由检测器完成检测;其特征是:测量系统可以实现介质表层与深层信息的分离;而且光学测头和被测样品组织是非接触的。 |
地址 |
300072天津市南开区鞍山西道时代广场A座1606室 |