确定电位测量探针的剩余工作时间的方法、实施该方法的装置及其应用

摘要

本发明涉及一种确定电位测量探针的剩余工作时间的方法，所述测量探针包括电解质(110)以及初级参考元件(106)和次级参考元件(108)，这些参考元件的布置方式使得从测量探针的开口(112)开始推进的电解质的消耗(148)到达次级参考元件，然后到达初级参考元件。根据本发明，初级参考元件和次级参考元件之间的电位差(V₁₂)被监控以满足一预定容限标准。在所述容限标准被背离时，确定从测量探针投入使用开始经过的基本工作时间段，并据此计算该剩余工作时间。

主权项

1、一种用于确定电位测量探针的剩余工作时间的方法，所述测量探针包括电解质以及初级参考元件和次级参考元件，这些参考元件的设置使得从测量探针之开口开始推进的电解质不足达到次级参考元件，然后达到初级参考元件，其特征在于，初级参考元件和次级参考元件之间存在的电位差(V12)被监控以与一预定的容限标准一致；在发现背离了该容限标准时，就将从测量探针投入使用开始经过的工作时间确定为基本时间段(tG)；由基本时间段(tG )计算测量探针的剩余工作时间(ΔtR)。