发明名称 动态存储器模组的高效测试方法
摘要 本发明公开一种动态存储器模组的高效测试方法,包括:完成初始化设置,程序进入保护模式,进行随机地址的测试;进行读写测试,内存存储列测试;进行数据总线反射和推进的测试;进行随机内存块测试;对内存自刷新以及单元地址进行常规测试。本发明可以全面的动态存储器模组检测,可以检测绝大部分动态存储器模组缺陷和错误,具有很高的故障覆盖率;本发明根据内存结构和操作系统优化软件技术,并根据各测试原理和效果优化测试流程,使测试效率提高到现有技术测试软件的3倍。
申请公布号 CN1485623A 申请公布日期 2004.03.31
申请号 CN02129242.6 申请日期 2002.09.27
申请人 记忆科技(深圳)有限公司 发明人 姜泉;黄山;桂丙武
分类号 G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人 刘芳
主权项 1、一种动态存储器模组的高效测试方法,包括以下步骤:完成初始化设置,程序进入保护模式,在保护模式内,内存单元的逻辑地址=物理地址;进行随机地址RandomAddress测试;进行读写Write&Read测试,内存存储列SdramBank测试;进行数据总线反射LineBounce和推进式March测试;进行随机内存块RandomBlock测试;对内存自刷新Refresh、单元地址HouseNumber进行常规测试。
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