发明名称 |
动态存储器模组的高效测试方法 |
摘要 |
本发明公开一种动态存储器模组的高效测试方法,包括:完成初始化设置,程序进入保护模式,进行随机地址的测试;进行读写测试,内存存储列测试;进行数据总线反射和推进的测试;进行随机内存块测试;对内存自刷新以及单元地址进行常规测试。本发明可以全面的动态存储器模组检测,可以检测绝大部分动态存储器模组缺陷和错误,具有很高的故障覆盖率;本发明根据内存结构和操作系统优化软件技术,并根据各测试原理和效果优化测试流程,使测试效率提高到现有技术测试软件的3倍。 |
申请公布号 |
CN1485623A |
申请公布日期 |
2004.03.31 |
申请号 |
CN02129242.6 |
申请日期 |
2002.09.27 |
申请人 |
记忆科技(深圳)有限公司 |
发明人 |
姜泉;黄山;桂丙武 |
分类号 |
G01R31/28;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 |
代理人 |
刘芳 |
主权项 |
1、一种动态存储器模组的高效测试方法,包括以下步骤:完成初始化设置,程序进入保护模式,在保护模式内,内存单元的逻辑地址=物理地址;进行随机地址RandomAddress测试;进行读写Write&Read测试,内存存储列SdramBank测试;进行数据总线反射LineBounce和推进式March测试;进行随机内存块RandomBlock测试;对内存自刷新Refresh、单元地址HouseNumber进行常规测试。 |
地址 |
518067广东省深圳市蛇口后海大道东南工贸大厦4-5层 |