发明名称 测量装置、测量装置用触头及测量方法
摘要 一种用于测量物体内外侧面间距离尺寸和内外径尺寸等的测量装置,它具有设有放置被测物体(W)的台座(35)的主体(1)以及通过支柱(42A、42B)将沿着一对测量头移动方向延伸之导轨(43)的端部支承在主体上的门形框架(41)。在导轨(43)上设有一对可移动自如地被支承着的滑块(51A、51B),并有一对测量头(91A、91B)从这些滑块向下延伸而与台座(35)上的被测物体(W)相接触。由于这种测量装置可缩短测量头的长度而减小测量头的挠曲变形,故能作高精度测量,并可省去用标准试件来作校正测试。
申请公布号 CN1144024C 申请公布日期 2004.03.31
申请号 CN98108093.6 申请日期 1998.05.07
申请人 株式会社三丰 发明人 大塚行治;猿木义雄;守屋良雄
分类号 G01B5/08 主分类号 G01B5/08
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 侯佳猷
主权项 1.一种用于测量物体内外侧面间距离尺寸的测量装置,它是通过使一对测量头一面沿着测量轴相对移动一面与被测物体的侧面抵接,由此时该对测量头之间的距离来测定的,其特征在于,具有:设有放置被测物体之台座的主体;配置于所述台座之上方、通过支柱将沿着所述一对测量头移动方向延伸的导轨端部支承在所述主体上的门形框架;在所述导轨上移动自如、且朝下方延伸以保持与所述台座上的所述被测物体的侧面进行抵接的一对测量头的滑块;将所述测量头同时沿所述导轨朝相互接近或分离的方向进行移动的测量头驱动控制装置,所述测量头驱动控制装置有选择地仅使所述测量头中的一个可沿所述测量轴移动。
地址 日本川崎市