发明名称 半导体装置的制造方法
摘要 本发明提供一种半导体装置的制造方法,优点是在将多个半导体元件混合集成化而形成的半导体装置中,制造时既采用FSA工艺,又可以容易并且确实地安装各半导体元件。该制造方法的特征是:半导体激光装置(100)具备:具有邻接主面形成的第一凹部(10a)以及第二凹部(10b)的基板(10);分别嵌入一部分到各凹部(10a、10b)中的第一半导体激光元件11以及第二半导体激光元件(12)。各凹部(10a、10b)的深度都要比嵌入凹部(10a、10b)的第一以及第二半导体激光元件(11、12)的高度要小。
申请公布号 CN1485963A 申请公布日期 2004.03.31
申请号 CN03147458.6 申请日期 2003.07.11
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 小野泽和利;上田哲三;上田大助
分类号 H01S5/022;H01S5/40;H01L23/12;H01L21/58;G11B7/12 主分类号 H01S5/022
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种半导体装置,其特征在于:具备:在主面上具有多个凹部的基板;和分别将其一部分嵌入到所述多个凹部中的多个半导体元件,所述各凹部的深度,比所述嵌入各凹部的所述半导体元件的高度要小。
地址 日本大阪府