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<p>Es ist ein integrierter Schaltkreis angegeben, der mehrere Funktionsblöcke (10, 11) umfaßt. Mit jeweils zugeordneten Multiplexern (12, 13) kann zwischen einem Normalbetrieb und einem Testbetrieb umgeschaltet werden. Eingangsseitig an die Multiplexer (12, 13) ist je ein Testregister (18, 19) angeschlossen, welches an einen seriellen Bus (1, 2, 3) angekoppelt ist. Eine Steuereinheit (21, 23, 24) steuert die Übernahme von Testdaten in einen ausgewählten Funktionsblock (10, 11) in Abhängigkeit vom Zustand einer Betriebsart-Speicherzelle (22) im jeweiligen Testregister (18, 19). Damit können mit geringem Aufwand einzelne Funktionsblöcke eines Chips gezielt in einen Testbetrieb versetzt und entsprechend programmiert werden, während andere Funktionsblöcke im Normalbetrieb arbeiten. Das beschriebene Prinzip ermöglicht eine große Flexibilität bezüglich des Testens integrierter Schaltkreise mit einer Vielzahl funktionaler Baugruppen.</p> |
