| 发明名称 | 光学记录介质和将数据光学记录在其中的方法 | ||
| 摘要 | 一种光学记录介质，包括：基底、在基底上形成的含有选自C、Si、Ge和Sn的元素作为主要成分的第一记录层、位于第一记录层附近的并含有选自C、Si、Ge和Sn的但是与第一记录层中含有的主要成分不同的元素作为主要成分的第二记录层。根据这样形成的光学记录介质，通过在其上投射波长为350nm－450nm的激光束，可以在其中光学记录数据和从其中重现数据，该光学记录介质包括两个或者多个记录层，它能够减少重现信号的噪声电平，并提高C/N比。 | ||
| 申请公布号 | CN1484231A | 申请公布日期 | 2004.03.24 |
| 申请号 | CN03127775.6 | 申请日期 | 2003.08.12 |
| 申请人 | TDK株式会社 | 发明人 | 青岛正贵;井上弘康;三岛康儿 |
| 分类号 | G11B7/24 | 主分类号 | G11B7/24 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 吴丽丽 |
| 主权项 | 1.一种光学记录介质，包括：基底、在基底上形成的含有选自C、Si、Ge和Sn的元素作为主要成分的第一记录层、位于第一记录层附近并含有选自C、Si、Ge和Sn的但是与第一记录层中含有的主要成分不同的元素作为主要成分的第二记录层。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||