| 主权项 |
1.一种具有自动清洁功能之短断路测试装置,包含: 一定位板,其具有一第一定位凹槽、一第二定位凹 槽及一清洁机构接合区,该第一定位凹槽与该第二 定位凹槽系用承载定位一待测电子元件并显露该 待测电子元件之该些电接触端子; 一测试板,结合有至少一具有复数个探测端子之测 试治具,该些探测端子系用以接触对应之待测电子 元件之该些电接触端子; 一清洁机构,系结合于该定位板之该清洁机构接合 区,其具有一接合板及复数个刷毛,该接合板系植 接该些刷毛;及 一移动机构,用以移动该测试板,使结合于该测试 板之测试治具能轴、径向运动而进行电性测试该 待测电子元件以及自动清洁该测试治具。2.如申 请专利范围第1项所述之短断路测试装置,其中该 待测电子元件系为一BGA封装基板,该封装基板并形 成有复数个BGA封装之半导体元件。3.如申请专利 范围第1项所述之短断路测试装置,其中该接合板 形成有复数个刷毛孔,该些刷毛孔系为矩阵排列。 4.如申请专利范围第1项所述之短断路测试装置,其 中该接合板系为一铜板。5.如申请专利范围第1项 所述之短断路测试装置,其中该些刷毛经抗静电处 理。6.如申请专利范围第1项所述之短断路测试装 置,其中该些刷毛之材质系为尼龙。7.一种具有自 动清洁功能之短断路测试装置,包含: 一定位板,具有至少一定位凹槽及一清洁机构接合 区,该定位凹槽系用以承载定位至少一待测电子元 件,该待测电子元件系具有复数个电接触端子,该 些电接触端子系显露于该定位凹槽; 一测试板,结合有至少一测试治具,该测试治具用 以接触对应之待测电子元件之该些电接触端子; 一清洁机构,系结合于该定位板之该清洁机构接合 区,其具有一接合板及复数个刷毛,该接合板系植 接该些刷毛;及 一移动机构,用以移动该测试板,使结合于该测试 板之测试治具进行电性测试该待测电子元件以及 自动清洁该测试治具。8.如申请专利范围第7项所 述之短断路测试装置,其中该待测电子元件系为一 BGA封装基板,并形成有复数个BGA封装之半导体元件 。9.如申请专利范围第7项所述之短断路测试装置, 其中该接合板形成有复数个刷毛孔,该些刷毛孔系 为矩阵排列。10.如申请专利范围第7项所述之短断 路测试装置,其中该接合板系为一铜板。11.如申请 专利范围第7项所述之短断路测试装置,其中该些 刷毛经抗静电处理。12.如申请专利范围第7项所述 之短断路测试装置,其中该些刷毛之材质系为尼龙 。图式简单说明: 第1图:依本发明之一具体实施例,一种具有自动清 洁功能之短断路测试装置之示意图; 第2图:依本发明之一具体实施例,一种具有自动清 洁功能之短断路测试装置,于测试动作时之示意图 ; 第3图:依本发明之一具体实施例,一种具有自动清 洁功能之短断路测试装置,于自动清洁时之示意图 ;及 第4图:依本发明之一具体实施例,一种具有自动清 洁功能之短断路测试装置,测试、清洁循环动作示 意图。 |
