| 主权项 |
1.一种测试电子组件用之行为测试系统,电子组件 系受测试元件,该系统包括: (a)应用系统,在其中产生测试信号,测试信号施于 应用系统内之参考元件和受测试元件方,参考元 件与受测试元件同型或功能上相等; (b)分接接线,接于应用系统内之系统接线,系统接 线系接至参考元件; (c)测试元件,接于该分接接线,以施加测试信号于 受测试元件; (d)比较元件,把应测试信号从参考元件接收的信 号,与应测试信号从受测试元件接收的信号,加 以比较; (e)指示机构,用以指示比较结果者。2.如申请专利 范围第1项之系统,其中该测试组件包括至少一收 发机,接于该分接接线和其他测试组件者。3.如申 请专利范围第2项之系统,其中使用至少一收发机, 把对系统接线所携带信号的完整性之效应减到最 少,并把其他测试元件和受测试元件,从应用系统 隔离者。4.如申请专利范围第1项之系统,其中系统 又包括对受测试元件实施习知测试用之元件者。5 .如申请专利范围第4项之系统,其中对受测试元件 实施习知测试用之元件系发生测试图型之元件者 。6.如申请专利范围第4项之系统,其中对受测试元 件实施习知测试用之元件系参数控制元件者。7. 一种测试电子组件用之行为测试系统,电子组件系 受测试元件,该系统包括: (a)应用系统,在其中产生输入信号,输入信号施于 系统控制器和测试控制器方,其中系统控制器接 于应用系统内之参考元件,系统控制器产生第一测 试信号,应输入信号而施加于参考元件,测试控 制器接于受测试元件,测试控制器产生第二测试信 号,应输入信号而施加于受测试元件,而其中参 考元件与受测试元件同型或功能相等; (b)分接接线,接于应用系统内之系统接线,系统接 线系接于系统控制器; (c)测试组件,接于该分接线,以供实施测试信号于 测试控制器; (d)比较元件,把应输入信号从系统控制器接收的 信号,与应输入信号从测试控制器接收的信号, 加以比较;以及 (e)指示机构,用以指示比较结果者。8.如申请专利 范围第7项之系统,其中该测试组件包括至少一收 发机,接于该分接接线和其他测试组件者。9.如申 请专利范围第8项之系统,其中使用至少一收发机, 把对系统接线所携带信号的完整性之效应减到最 少,并把其他测试元件和受测试元件,从应用系统 隔离者。10.如申请专利范围第7项之系统,其中系 统又包括对受测试元件实施习知测试用之元件者 。11.如申请专利范围第10项之系统,其中对受测试 元件实施习知测试用之元件系发生测试图型之元 件者。12.如申请专利范围第10项之系统,其中对受 测试元件实施习知测试用之元件系参数控制元件 者。13.如申请专利范围第7项之系统,其中测试控 制器系第二应用系统之系统控制器者。14.一种测 试电子组件用之行为测试系统,包括: (a)应用系统,其中产生至少一测试信号; (b)参考元件,在应用系统内; (c)电子组件,系受测试元件; (d)测试组件,接于应用系统和电子组件,测试组件 适于把应用系统之复数信号导至电子组件,且电子 组件故障时,应用系统也不故障;以及 (e)比较机构,把参考元件和电子组件之输出加以比 较者。15.如申请专利范围第14项之系统,其中电子 组件系记忆晶片、特殊功能积体电路晶片、处理 机晶片、资料通信元件、电子元件之一者。16.如 申请专利范围第14项之系统,其中测试组件包括至 少一收发机者。17.如申请专利范围第15项之系统, 其中电子组件系用于下列至少其一之记忆晶片、 个人电脑、电视游乐器、录音机、网路服务机、 数位电视机、MP3放映机、照相机、细胞式电话、 使用至少一记忆晶片以微处理机为基础之元件、 使用至少一记忆晶片之电子元件、使用至少一记 忆晶片之电子系统、使用至少一记忆晶片之电子 箱者。18.如申请专利范围第14项之系统,其中系统 又包括对受测试元件实施习知测试用之元件者。 19.如申请专利范围第18项之系统,其中对受测试元 件实施习知测试用之元件系发生测试图型之元件 者。20.如申请专利范围第18项之系统,其中对受测 试元件实施习知测试用之元件系参数控制元件者 。21.一种测试积体电路元件用之行为测试方法,其 中: (a)第一积体电路元件具有输入,该输入包括与应用 系统的第二积体电路元件通讯之复数信号副本; (b)第一积体电路元件应该输入提供的信号,和第 二积体电路元件应与第二积体电路元件通信之 信号所提供的信号,加以比较者。22.如申请专利范 围第21项之方法,其中第一和第二积体电路元件各 为记忆晶片、特殊功能积体电路晶片、处理机晶 片、资料通信元件、电子组件之一者。23.如申请 专利范围第22项之方法,其中该应用系统系下列之 一:个人电脑、电视游乐器、录音机、网路服务机 、数位电视机、MP3放映机、照相机、细胞式电话 、使用至少一记忆晶片以微处理机为基础之元件 、使用至少一记忆晶片之电子元件、包括至少一 记忆晶片之电子系统、包括至少一记忆晶片之电 子箱者。24.如申请专利范围第22项之方法,其中复 数的第一积体电路元件可并行测试者。25.如申请 专利范围第21项之方法,其中方法又包括步骤为,对 受测试之元件实施习知测试者。26.如申请专利范 围第25项之方法,其中对受测试之元件实施习知测 试之步骤,包含对受测试元件施加测试图型者。27. 如申请专利范围第25项之方法,其中对受测试之元 件实施习知测试之步骤,包含修改至少一测试组件 之操作参数者。28.如申请专利范围第21项之方法, 其中该第一积体电路元件,系原先被其厂商归类为 故障或淘汰品者。29.如申请专利范围第21项之方 法,又包括步骤为,把步骤(b)内之比较结果输出者 。30.如申请专利范围第29项之方法,其中比较结果 呈现在至少一种显示器,一或以上发光二极体,一 或以上误差指示器、输出元件上者。31.如申请专 利范围第29项之方法,其中比较结果储存在记忆元 件和储存元件至少其一者。32.如申请专利范围第 29项之方法,其中比较结果导引至逻辑元件、处理 机、应用系统、微控制器、网路之一者。33.一种 积体电路元件之测试方法,包括: (a)对第一积体电路元件发射第一复数信号,该第一 积体电路元件系受测试元件,该第一复数信号在逻 辑上与发射至在应用系统操作的第二积体电路元 件之第二复数信号一致; (b)测量第一积体电路元件对该第一复数信号至少 其一的第一应; (c)测量第二积体电路元件对该第二复数信号至少 其一的第二应;以及 (d)将该第一和第二应加以比较者。34.如申请专 利范围第33项之方法,其中第一复数信号,系利用该 第二积体电路元件与该应用系统内任何其他组件 间的接线分接,并把此等接线所带信号拷贝而得者 。35.如申请专利范围第34项之方法,其中第一和第 二积体电路元件各为记忆晶片、特殊功能积体电 路晶片、处理机晶片、资料通信元件、电子组件 之一者。36.如申请专利范围第35项之方法,其中该 应用系统包括至少一电子电路,而该至少一电子电 路之一系包含或接至该第二积体电路元件者。37. 如申请专利范围第36项之方法,其中该应用系统系 下列之一:个人电脑、电视游乐器、录音机、网路 服务机、数位电视机、MP3放映机、照相机、细胞 式电话、使用至少一记忆晶片以微处理机为基础 之元件、使用至少一记忆晶片之电子元件、包括 至少一记忆晶片之电子系统、包括至少一记忆晶 片之电子箱者。38.如申请专利范围第33项之方法, 又包括步骤为,把步骤(d)内比较结果输出者。39.如 申请专利范围第38项之方法,其中比较结果呈现在 至少一种显示器,一或以上发光二极体,一或以上 误差指示器、输出元件上者。40.如申请专利范围 第38项之方法,其中比较结果储存在记忆元件和储 存元件至少其一者。41.如申请专利范围第38项之 方法,其中比较结果导引至逻辑元件、处理机、应 用系统、微控制器、网路之一者。42.如申请专利 范围第35项之方法,其中复数的第一积体电路元件 可并行测试者。43.如申请专利范围第33项之方法, 其中方法又包括步骤为,对受测试之元件实施习知 测试者。44.如申请专利范围第43项之方法,其中对 受测试之元件实施习知测试之步骤,包含对受测试 元件施加测试图型者。45.如申请专利范围第43项 之方法,其中对受测试之元件实施习知测试之步骤 ,包含修改至少一测试组件之操作参数者。46.如申 请专利范围第33项之方法,其中该第一积体电路元 件,系原先被其厂商归类为故障或淘汰品者。47.一 种积体电路元件之测试方法,包括: (a)对第一控制器发射第一复数信号,该第一控制器 系接于第一积体电路元件,该第一复数信号在逻辑 上与发射至第二控制器之第二复数信号一致,该第 二控制器系接于第二积体电路元件,该第二控制器 和该第二积体电路在应用系统内操作; (b)测定第一控制器对该第一复数信号至少其一之 第一应; (c)测定第二控制器对该第二复数信号至少其一之 第二应;以及 (d)将该第一和第二应加以比较者。48.如申请专 利范围第47项之方法,其中该第一和第二控制器在 功能上相等者。49.如申请专利范围第47项之方法, 其中第一复数信号,系利用该第二控制器与该应用 系统内第二积体电路元件以外的组件间之至少一 接线,分接而得者。50.如申请专利范围第49项之方 法,其中第一和第二积体电路元件各为记忆晶片, 特殊功能积体电路晶片、处理机晶片、资料通信 元件、电子组件之一者。51.如申请专利范围第50 项之方法,其中该应用系统包括至少一电子电路, 而该至少一电子电路之一系包含或接至该第二积 体电路元件者。52.如申请专利范围第50项之方法, 其中该应用系统系下列之一:个人电脑、电视游乐 器、录音机、网路服务机、数位电视机、MP3放映 机、照相机、细胞式电话、使用至少一记忆晶片 以微处理机为基础之元件、使用至少一记忆晶片 之电子元件、包括至少一记忆晶片之电子系统、 包括至少一记忆晶片之电子箱者。53.如申请专利 范围第47项之方法,又包括步骤为,步骤(d)内比较结 果输出者。54.如申请专利范围第53项之方法,其中 比较结果呈现在至少一种显示器,一或以上发光二 极体,一或以上误差指示器、输出元件上者。55.如 申请专利范围第53项之方法,其中比较结果储存在 记忆元件和储存元件至少其一者。56.如申请专利 范围第53项之方法,其中比较结果导引至逻辑元件 、处理机、应用系统、微控制器、网路之一者。 57.如申请专利范围第50项之方法,其中复数的第一 积体电路元件可并行测试者。58.如申请专利范围 第47项之方法,其中方法又包括步骤为,对受测试之 元件实施习知测试者。59.如申请专利范围第58项 之方法,其中对受测试之元件实施习知测试之步骤 ,包含对受测试元件施加测试图型者。60.如申请专 利范围第58项之方法,其中对受测试之元件实施习 知测试之步骤,包含修改至少一测试组件之操作参 数者。61.如申请专利范围第47项之方法,其中该第 一积体电路元件,系原先被其厂商归类为故障或淘 汰品者。62.一种积体电路元件之测试系统,包括: (a)第一积体电路元件,系受测试元件; (b)第二积体电路元件,在应用系统内操作; (c)复数系统接线,连接第二积体电路元件于该应用 系统内之其他组件; (d)复数测试组件,接于该积体电路元件和该复数系 统接线,该复数测试组件适于把复数系统接线所带 信号导引至第一积体电路元件;以及 (e)比较器,把第一和第二积体电路元件对该信号之 应加以比较者。63.如申请专利范围第62项之系 统,其中第一和第二积体电路元件各为记忆晶片、 特殊功能积体电路晶片、处理机晶片、资料通信 元件、电子组件之一者。64.如申请专利范围第63 项之系统,其中该应用系统包括至少一电子电路, 而该至少一电子电路之一系包含或接至该第二积 体电路元件者。65.如申请专利范围第63项之系统, 其中该应用系统系下列之一:个人电脑、电视游乐 器、录音机、网路服务机、数位电视机、MP3放映 机、照相机、细胞式电话、使用至少一记忆晶片 以微处理机为基础之元件、使用至少一记忆晶片 之电子元件、包括至少一记忆晶片之电子系统、 包括至少一记忆晶片之电子箱者。66.如申请专利 范围第62项之系统,其中系统又包括对受测试元件 实施习知测试用之元件者。67.如申请专利范围第 66项之系统,其中对受测试元件实施习知测试用之 元件系发生测试图型之元件者。68.如申请专利范 围第66项之系统,其中对受测试元件实施习知测试 用之元件系参数控制元件者。69.如申请专利范围 第66项之系统,其中该系统亦包括输入选择器元件, 适于在提供从该元件输入至该第一积体电路元件, 以便对受测试元件实施习知测试,以及提供复数系 统接线所带信号至该第一积体电路元件,之间切换 者。70.如申请专利范围第62项之系统,其中该系统 亦包括误差记载单位,接至该比较器,该误差记载 单位适于把比较结果导引至微控制器、网路、显 示器、一或以上发光二极体、一或以上误差指示 器、处理机、应用系统、逻辑元件、储存元件、 输出元件、记忆元件至少其一者。71.一种积体电 路元件之测试系统,包括: (a)第一积体电路元件,系受测试元件; (b)第一控制器,接于该第一积体电路元件; (c)第二积体电路元件,在应用系统内操作; (d)第二控制器,接于该第二积体电路元件,该第二 控制器系在该应用系统内操作; (e)复数系统接线,连接该第二控制器至该应用系统 内第二积体电路元件以外之其他组件; (f)复数测试组件,包括至少一电子组件和接线,该 复数测试组件接于该第一控制器和该复数系统接 线,该复数测试组件适于把复数系统接线所带信号 导引至该第一控制器;以及 (g)比较器,适于把第一和第二控制器对该信号之 应加以比较者。72.如申请专利范围第71项之系统, 其中该第一和第二控制器在功能上相等者。73.如 申请专利范围第71项之系统,其中第一和第二积体 电路元件各为记忆晶片、特殊功能积体电路晶片 、处理机晶片、资料通信元件、电子组件之一者 。74.如申请专利范围第73项之系统,其中该应用系 统包括至少一电子电路,而该至少一电子电路之一 系包含或接至该第二积体电路元件者。75.如申请 专利范围第74项之系统,其中该应用系统系下列之 一:个人电脑、电视游乐器、录音机、网路服务机 、数位电视机、MP3放映机、照相机、细胞式电话 、使用至少一记忆晶片以微处理机为基础之元件 、使用至少一记忆晶片之电子元件、包括至少一 记忆晶片之电子系统、包括至少一记忆晶片之电 子箱者。76.如申请专利范围第71项之系统,其中系 统又包括对受测试元件实施习知测试用之元件者 。77.如申请专利范围第76项之系统,其中对受测试 元件实施习知测试用之元件系发生测试图型之元 件者。78.如申请专利范围第76项之系统,其中对受 测试元件实施习知测试用之元件系参数控制元件 者。79.如申请专利范围第76项之系统,其中该系统 亦包括输入选择器元件,适于在从该元件提供输入 ,以对受测试元件实施习知测试,以及把复数系统 接线所载信号提供至第一积体电路元件和第一控 制器之一,中间切换者。80.如申请专利范围第71项 之系统,其中该系统亦包括误差记载单位,接至该 比较器,该误差记载单住适于把比较结果导引至微 控制器、网路、显示器、一或以上发光二极体、 一或以上误差指示器、处理机、应用系统、逻辑 元件、储存元件、输出元件、记忆元件至少其一 者。81.一种积体电路元件之测试系统,包括: (a)测试元件; (b)测试信号用的储存元件; (c)复数测试组件,接于该测试元件和该储存元件, 该复数测试组件适于把储存于该储存元件内之第 一复数信号,导引至该测试元件;以及 (d)比较器,把该测试元件之输出,与该储存元件内 所储存第二复数信号加以比较者。82.如申请专利 范围第81项之系统,其中该测试信号为下列之一: (a)源自应用系统的系统信号副本,该系统信号包括 应用系统组件之输入,和该应用系统组件之输出, 该应用系统之组件与该测试元件同型,或与该测试 元件在功能上相等;或 (b)由模拟元件产生之模拟信号,该模拟信号模拟源 自应用系统之系统信号,该系统信号包括应用系统 组件之输入,和该应用系统组件之输出,该应用系 统之组件系与该测试元件同型,或与该测试元件在 功能上相等者。83.如申请专利范围第82项之系统, 其中测试元件为积体电路元件,该积体电路元件为 受测试元件者。84.如申请专利范围第82项之系统, 其中测试元件为控制器,接于积体电路元件,该积 体电路元件为受测试元件者。图式简单说明: 第1图为积体电路记忆元件典型习知测试系统之简 图; 第2A图为记忆应用系统若干组件之简图; 第2B图为行为测试系统基本建筑之简图; 第2C图为典型PC应用系统若干组件之简图; 第3图为本发明较佳具体例之简图; 第4A图为本发明另一较佳具体例之简图; 第4B图为第4A图使用二电路板实施之简图; 第5图为本发明另一较佳具体例之简图; 第6图为记忆晶片测试方法中所进行步骤之流程图 ; 第7A和7B图为记忆晶片经行为测试的方法中另一具 体例之步骤流程图; 第8图为本发明各种具体例内记忆滙流排分接配置 和装置; 第9图为使用参数控制元件的本发明具体之简图; 第10图为复数受测试元件并行测试的本发明变化 具体例之简图; 第11A、11B、11C、11D图为供应至测试组件的应用信 号储存在记忆元件内的系统之本发明变化具体例 简图。 |
