Verfahren und Vorrichtungen zum Charakterisieren von Platinentestabdeckung

摘要

Es sind Verfahren und Vorrichtungen zum Charakterisieren einer Platinentestabdeckung offenbart. Bei einem Verfahren sind potentiell fehlerhafte Eigenschaften für eine Platine aufgezählt, ohne Bezug darauf, wie die potentiell fehlerhaften Eigenschaften getestet werden könnten. Für jede aufgezählte potentielle fehlerhafte Eigenschaft wird eine Eigenschaftseinstufung erzeugt. Jede Eigenschaftseinstufung zeigt an, ob eine Testfolge nach einer potentiell fehlerhaften Eigenschaft testet. Eigenschaftseinstufungen werden dann gemäß einer Gewichtungsstruktur kombiniert, um eine Platinentestabdeckung für die Testfolge zu charakterisieren.