发明名称 | 一种背景光照射线阵CCD辅助测量的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种背景光照射线阵CCD辅助测量的方法,其特征是在CCD探头中设置了均匀背景光光源,通过该光源照射局部或全部CCD,移动信号电平,使任一个被测体的光学图象中的相关信号电平趋于相等或相异;微调背景光光源的照度,使得以比较放大器,门电路和触发器构成的信号处理电路获得简化,再用微处理器做采样和数据处理,可以抑制噪声,使系统工作更趋稳定,且能在测量时微调测量结果。 | ||
申请公布号 | CN1142407C | 申请公布日期 | 2004.03.17 |
申请号 | CN02110291.0 | 申请日期 | 2002.04.12 |
申请人 | 山西大学 | 发明人 | 金以丰;陈苏民 |
分类号 | G01B11/10;G01D5/34 | 主分类号 | G01B11/10 |
代理机构 | 山西五维专利事务所有限公司 | 代理人 | 杨耀田 |
主权项 | 1.一种背景光照射线阵CCD辅助测量的方法,其特征是:(1)在CCD探头中设置了均匀直线背景光光源,通过该光源照射局部CCD区段,在原有输出波形不变的情况下,移动该局部CCD信号的电平,使得在任一个具体被测体的光学图象中的相关信号电平趋于相等或相异;(2)在CCD探头中设置另一背景光光源,照射全部CCD;同时获得测量结果的微调,起到校准的作用;微调上述两种背景光光源的照度,并以比较放大器、门电路和触发器构成的信号处理电路获得目标信号,再用微处理器做采样和数据处理;(3)将微处理器的I/O口接到上述局部照射背景光光源的电开关;将微处理器接口电路扩展D/A转换器,输出电压控制照射全部CCD的背景光强度,即可将上述对CCD的照射进行程序控制;手调或程控上述两种背景光,并以比较放大器、门电路和触发器构成的信号处理电路获得目标信号,再用微处理器做采样和数据处理。 | ||
地址 | 044000山西省太原市坞城路36号 |