| 主权项 |
1.一种测试治具构造改良,系包含有第一密度板、第二密度板及定位件;其中,该第一密度板,系在其板面上布设有若干插孔,可供若干探针组插置,另在其板面近周边处,系开设有至少包含两组的第一、二定位孔;该第二密度板,系在其板面上设有对应第一密度板插孔之插孔,且设有其轴心可对应第一、二定位孔之同心孔,及其轴心与第一、二定位孔不相对称之偏心孔;该定位件,系为一圆柱体,可在对应插入同心孔与第一或第二定位孔,或偏心孔与第一、二定位孔,令第一、二密度板之插孔相对应呈同轴易于探针组插/拔,亦或使第一、二密度板位移,令上、下插孔以圆心不对称的构造夹固探针组,令上述探针组可重复排列组合插置固定于第一、二密度板之功效者。2.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板的四角落内,系分别对应设有两相邻的第一、第二定位孔者。3.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板的四角落内,系分别对应设有第一定位孔,且在两第一定位孔间设有一第二定位孔者。4.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板与第二密度板的两对称侧边板面上,系分别同上、下对应设有一组第一、二定位孔及同心孔、偏心孔者。5.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板之插孔口径,系略小于第二密度板之插孔口径者。6.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板之插孔口径,系等于第二板之插孔口径者。7.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该第一密度板之插孔口径,系略大于第二板之插孔口径者。8.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该测试治具系由一第一密度板与一第二密度板上、下叠合而成者。9.如申请专利范围第1项所述之测试治具构造改良,其中,该测试治具系可分别由上、下两第二密度板共同夹合第一密度板,而第一密度板的数量可以是一个以上者。图式简单说明:第1图系为本创作之构造分解示意图。第2图系为本创作之密度板构造示意图。第3图系为本创作之偏心板构造示意图。第4图系为本创作之构造组合侧剖示意图一。第5图系为本创作之构造组合侧剖示意图二。第6图系为本创作之另一构造组合侧剖示意图一。第7图系为本创作之另一构造组合侧剖示意图二。第8图系为本创作之另一构造组合侧剖示意图三。第9图系为本创作第6图之构造组合侧剖示意图。第10图系为本创作之另一实施例构造组合侧剖示意图。第11图系为本创作之定位孔排列构造俯视图。第12图系为本创作之另一定位孔排列构造俯视图。第13图系为本创作之部份构造放大示意图。第14图系为习用测试治具之部份侧剖示意图。 |
