发明名称 Verfahren und System zum Handhaben von Substraten in einer Produktionslinie mit einer Cluster-Anlage und einer Messanlage
摘要 In einer Produktionslinie umfassen eine Cluster-Anlage mit mehreren im Wesentlichen identischen Prozessmodulen und eine Messanlage eine Steuerungseinheit, die es ermöglicht, Prozessinformation zu empfangen, zu speichern und bereitzustellen, die angibt, in welchem Prozessmodul welches Substrat prozessiert wurde und die auf der Grundlage der Prozessinformation auswählt, welches Substrat einer Messung zu unterziehen ist. Vorteilhafterweise werden die Substrate so ausgewählt, dass jedes Prozessmodul durch ein entsprechendes zu messendes Substrat repräsentiert ist, um damit in zuverlässiger Weise die Prozessqualität jedes Prozessmoduls zu überwachen.
申请公布号 DE10240115(A1) 申请公布日期 2004.03.11
申请号 DE2002140115 申请日期 2002.08.30
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC 发明人 HELLIG KAY;GOERIGK PETER;LIEBOLD UWE;GRUENZ RONALD;FANDREY KARL-HEINZ
分类号 G03F7/20;G05B19/418;H01L21/00;(IPC1-7):G05B15/02 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
地址