| 发明名称 |
Device and method for testing integrated circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1239293(A3) |
申请公布日期 |
2004.03.10 |
| 申请号 |
EP20020100219 |
申请日期 |
2002.03.05 |
| 申请人 |
PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH;KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
HAPKE, FRIEDRICH |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/3181;G01R31/319;G01R31/3193;G06F11/22;(IPC1-7):G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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