发明名称 混载DRAM的半导体器件
摘要 本发明提供一种半导体器件,能抑制DRAM的读出放大器晶体管对之间的特性差异,谋求读出放大器的高灵敏度化。构成上述DRAM的CMOS读出放大器的、N型读出放大器晶体管的栅电极对和P型读出放大器晶体管的栅电极对,分别与位线在同一方向并联配置在一个有源区内;邻接的N型读出放大器晶体管对、及邻接的P型读出放大器晶体管对,通过STI被绝缘隔离。
申请公布号 CN1481029A 申请公布日期 2004.03.10
申请号 CN03152611.X 申请日期 2003.08.01
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 中林隆
分类号 H01L27/108;H01L27/04 主分类号 H01L27/108
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 黄剑锋
主权项 1.一种半导体器件,混载着DRAM区域和高速CMOS逻辑区域,其特征在于,构成上述DRAM的CMOS读出放大器的、N型读出放大器晶体管的栅电极对和P型读出放大器晶体管的栅电极对,分别与位线在同一方向并联配置在一个有源区内;邻接的N型读出放大器晶体管对、及邻接的P型读出放大器晶体管对,通过元件隔离区域被绝缘隔离。
地址 日本大阪府