发明名称 |
用来检测调制解调器的输入电压的低电压检测电路 |
摘要 |
本发明提供一种低电压检测电路,用来检测调制解调器的输入电压是否低于一预定值,该电路包含一第一晶体管,其包含:一第一极,电连接到一参考电压;一控制极,电连接到该调制解调器的输入电压;以及一第二极。该电路还包含一第二晶体管,其包含:一第一极,电连接到一逻辑高电压;一控制极,电连接到该第一晶体管的第二极、以及一第二极,电连接到一逻辑低电压。其中当该输入电压低于该预定值时,该电路会在该第二晶体管的第一极输出一逻辑低信号。 |
申请公布号 |
CN1480734A |
申请公布日期 |
2004.03.10 |
申请号 |
CN02132154.X |
申请日期 |
2002.09.03 |
申请人 |
国碁电子股份有限公司 |
发明人 |
黄英杰 |
分类号 |
G01R19/165;H04L12/26;H04L29/14 |
主分类号 |
G01R19/165 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
王志森;黄小临 |
主权项 |
1.一种低电压检测电路,用来检测一调制解调器的输入电压是否低于一预定值,该低电压检测电路包含:一第一晶体管,其包含:一第一极,电连接到一参考电压;一控制极,电连接到该调制解调器的输入电压;以及一第二极;一第二晶体管,其包含:一第一极,电连接到一逻辑高电压;一控制极,电连接到该第一晶体管的第二极;以及一第二极,电连接到一逻辑低电压;其中当该调制解调器的输入电压低于该预定值时,该第一晶体管的控制极的电压会低于该参考电压,以致于该第一晶体管及该第二晶体管会相继导通,因而导致该低电压检测电路在该第二晶体管的第一极输出一逻辑低信号。 |
地址 |
100088台湾省新竹市科学工业园区 |