发明名称 Verfahren zur Herstellung einer Phasenmaske
摘要 Eine erste (20) und eine zweiten phasenschiebende, semitransparente Schicht (30) werden auf einem Substrat (10) gebildet. Mittels lithographischer Strukturierung werden hieraus erste erhabene Strukturelemente (80) auf dem Substrat (10) mit einem ersten Transmissionsgrad und zweite Strukturelemente (90) mit einem von dem ersten Transmissionsgrad unterschiedlichen zweiten Transmissionsgrad gebildet. Speicherprodukte können mit hoher Auflösung und großer Maßhaltigkeit bei der Übertragung der Strukturelemente (80, 90) auf ein Halbleitersubstrat hergestellt werden, indem dichte Strukturanordnungen durch die Strukturelemente (90) mit einem hohen Transmissionsgrad von über 30 Prozent und auf der gleichen Maske isolierte Strukturanordnungen niedriger Dichte durch die Strukturelemente (80) mit einem niedrigeren Transmissionsgrad repräsentiert werden.
申请公布号 DE10237344(A1) 申请公布日期 2004.03.04
申请号 DE2002137344 申请日期 2002.08.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KUNKEL, GERHARD;HENKE, WOLFGANG
分类号 G02B27/14;G03C5/00;G03F1/00;G03F9/00;(IPC1-7):G03F1/14;B81C1/00 主分类号 G02B27/14
代理机构 代理人
主权项
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