| 发明名称 | 用于对磁共振成像的射频检测器阵列去耦的方法和设备 | ||
| 摘要 | 在磁共振成像(MRI)系统中使用的射频(RF)检测器阵列组件包括至少一个RF检测器阵列(410)，其中该阵列具有用于从MRI系统中同时采集射频(RF)信号的多个RF检测器元件，以及包括与该多个检测器元件中的每个检测器元件耦合以使每个检测器元件与其余的检测器元件去耦的去耦接口(420)。本发明还提供了在磁共振成像(MRI)系统中使射频(RF)检测器阵列元件去耦的方法。该方法包括如下的步骤：提供至少一个RF检测器阵列(410)，其中该检测器阵列具有多个RF检测器元件，以及提供与该多个检测器元件中的每个检测器元件耦合以使每个检测器元件与其余的检测器元件去耦的去耦接口(420)。 | ||
| 申请公布号 | CN1479113A | 申请公布日期 | 2004.03.03 |
| 申请号 | CN03123815.7 | 申请日期 | 2003.05.16 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | R·F·李 |
| 分类号 | G01R33/32;G01R33/36 | 主分类号 | G01R33/32 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王岳;梁永 |
| 主权项 | 1.一种在磁共振成像(MRI)系统中使用的射频(RF)检测器阵列组件，包括：至少一个RF检测器阵列(410)，所说的阵列具有用于从MRI系统中同时采集射频(RF)信号的多个RF检测器元件；和去耦接口(420)，该去耦接口与所说的多个检测器元件中的每个检测器元件耦合以使每个检测器元件与其余的检测器元件去耦。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||