发明名称 | 电子元件测试插置座的移动限位件 | ||
摘要 | 一种电子元件测试插置座的移动限位件。为提供一种确实维持装置行程、稳固测试插座上电子元件设置的电子元件测试装置部件,提出本发明,它为插置于测试插置座压控框架两相对的隧槽侧边下方与基座之间下压裕度隧槽内的一体成形成构件,它包括抵靠并限位于下压裕度隧槽外压控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、与近塞部相对的远塞部及连接近塞部与远塞部的连接部;近塞部及远塞部分别被夹制于压控框架邻近及远离限位部的隧槽侧边下方的下压裕度隧槽内。 | ||
申请公布号 | CN1479106A | 申请公布日期 | 2004.03.03 |
申请号 | CN03145995.1 | 申请日期 | 2003.07.18 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 王德弘 |
分类号 | G01R31/00;G01R31/26 | 主分类号 | G01R31/00 |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘领弟 |
主权项 | 1、一种电子元件测试插置座的移动限位件,其特征在于它为插置于测试插置座压控框架两相对的隧槽侧边下方与基座之间下压裕度隧槽内的一体成形成构件,它包括抵靠并限位于下压裕度隧槽外压控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、与近塞部相对的远塞部及连接近塞部与远塞部的连接部;近塞部及远塞部分别被夹制于压控框架邻近及远离限位部的隧槽侧边下方的下压裕度隧槽内。 | ||
地址 | 台湾省台北县 |