发明名称 |
修复存储器缺陷的方法和装置 |
摘要 |
提供修复缺陷的存储器单元的方法和装置。该装置包括存储器、存储器扫描控制器和存储器控制器。所述存储器扫描控制器对存储器进行扫描,以便知道当系统开始运行时,该存储器是否有缺陷,且发送导致缺陷的信息到存储器控制器。所述存储器控制器将系统控制器使用的外部地址转换为访问该存储器的内部地址,且用提供的备用存储器来替代缺陷单元,以便,当系统控制器发出访问该缺陷单元的请求时,系统控制器能够访问所述备用存储器而非缺陷单元。 |
申请公布号 |
CN1479309A |
申请公布日期 |
2004.03.03 |
申请号 |
CN03147844.1 |
申请日期 |
2003.06.25 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
李尚洙;徐荣胄;朴世雄;李润南 |
分类号 |
G11C7/00;G11C7/24;G06F13/00 |
主分类号 |
G11C7/00 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
郭定辉;黄小临 |
主权项 |
1.一种修复缺陷的存储器单元的方法,包括:当系统开始运行时,检查所有的存储器单元,以确定该存储器是否有缺陷;当存储器检查结束时,作为检查结果而获得的缺陷信息存储到存储器控制器;当有访问缺陷单元的请求时,用存储器控制器中的备用存储器来替换存储器中的缺陷单元。 |
地址 |
韩国京畿道 |