发明名称 制备Ⅲ - V族化合物半导体的方法
摘要 形成III-V族氮化物化合物半导体的晶体层时,氮化物化合物半导体层先覆于基材上形成底层,藉混合蒸汽相取向附生,于淀积压力不低于800托耳的条件下,通式InxGayAlzN(其中,0≦X≦1,0≦y≦1,0≦z≦1,x+y+z=1)表示的III-V族氮化物化合物半导体取向附生生长于底层上。藉由使得淀积压力不低于800托耳,III-V族氮化物化合物半导体的结晶性获显着改善且其缺陷密度降低。
申请公布号 TW200403865 申请公布日期 2004.03.01
申请号 TW092106837 申请日期 2003.03.26
申请人 住友化学工业股份有限公司 发明人 平松和政;三宅秀人;坊山晋也;前田尚良;家近泰
分类号 H01L33/00 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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