发明名称 半导体积体电路装置及其制造方法
摘要 不用将基板和闸极绝缘膜之界面附近的氮浓度提高至所需要以上,则可提高闸极绝缘膜中之氮浓度。其解决手段为藉由将基板予以湿氧化,而在p型井及n型井之各表面上形成膜厚5nm以下之氧化矽膜后,藉由在含有5%左右之NO气体的环境下热处理基板,并将氮导入至氧化矽膜中,而形成氧氮化矽膜。接着,藉由将基板曝露于氮等离子环境中,使得氮又导入至氧氮化矽膜中,藉此形成由在与基板之界面附近具有第1峰值浓度,并在表面附近具有第2峰值浓度之氧氮化矽所构成的闸极绝缘膜。
申请公布号 TW200403854 申请公布日期 2004.03.01
申请号 TW092115870 申请日期 2003.06.11
申请人 日立制作所股份有限公司 发明人 石川大;酒井哲;平岩笃
分类号 H01L29/78 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本