发明名称 矽石系有机被膜与其制造方法、以及具备该有机被膜之基材
摘要 本发明系提供一种被膜,其在高温处理步骤可适用,可使配线间之微小空间无间隙的埋入,可防止侧面蚀刻之产生,同时,伴随氛围温度的上升使脱气极少之被膜。其为将选自下述一般式(I)所不之化合物及一般式(II)所示化合物所成群之一种以上所成之第1烷氧基矽烷化合物,予以以水解处理所得之含反应生成物之涂敷液,涂敷于被处理物上以形成涂膜,使该涂膜在氧浓度1000ppm以下之氛围中烧(calcination)以形成有机被膜。又可使该第1烷氧基矽烷化合物和下述一般式(III)所示之化合物所成之群之一种以上所成之第2烷氧基矽烷化合物并用。R^12Si(OR^2)2…(I)(式中,R^1为碳数1~4之烷基或苯基,R^2为碳数1~4之烷基。)R^3Si(OR^4)3…(II)(式中,R^3为碳数1~4之烷基或苯基,R^4为碳数1~4之烷基。)Si(OR^5)4…(III)(式中,R^5为碳数1~4之烷基。)
申请公布号 TW200403758 申请公布日期 2004.03.01
申请号 TW092118726 申请日期 2003.07.09
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 涩谷达彦;藤井恭
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本