晶片测试机改良结构

摘要

一种晶片测试机改良结构，其主要系于一主座体上设有一测试板支座，于该测试板支座上置有一测试板，测试板上则设有复数晶片测试座，而主度体底侧设有一受可转动之偏心轮压挚之活动板，并使该活动板以复数贯穿主座体之连动杆衔接连动一设于主座体上方之活动上座，于该活动上座固定复数压板延伸至测试板之各晶片测试座上方，且于各压板中间设有一镂空部恰对应于各晶片测试座容置晶片之位置，利用该偏心轮枢转而由活动板、连动杆带动活动上座下压，使压板同步下压于各晶片测试座之二侧，使置于晶片测试座内之晶片得以受夹持固定于晶片测试座内，并于晶片测试完毕后，以同一动作使压板下压，以使该晶片松脱于晶片测试座内，藉以节省晶片之取、放时 ：第----3----图(二)、本 案 代 表 图 之 元 件 代 表 符 号 简 单 说明 ：1.....主 座 体 11.....固 定 下 座12、51..... 测 试 板 支 座 2..... 驱 动 装 置22.....活 动 板 23.....连 动 杆24.....活 动 上 座 25.....压 板251.....镂 空 部 3..... 测试 板31..... 晶 片 测 试 座 32..... 转 接 板33..... 主 机 板 34..... 显 示 幕4.....晶 片 221..... 复 位 弹 簧5.....底 座

主权项

1.一种晶片测试机改良结构,其至少包括: 一主座体,下方以复数支架衔接一固定下座,而主 座体上另设有一测试板支座; 一测试板,设置于前述测试板支座上,其上设有复 数晶片测试座,该测试板之一侧经一转接板衔接导 通至一设置于前述主座体上之主机板,该主机板并 可衔接一显示幕; 一驱动装置,主要由偏心轮、活动板、连动杆、活 动上座及压板所组成,该偏心轮系以一枢轴枢设于 前述固定下座上,而活动板系压设于偏心轮上,且 活动板上方则以复数连动杆向上同步连动一活动 上座,于该活动上座上固定一压板,且该压板之中 间部位设有一长形之镂空部对应于前述测试板各 之晶片测试座中间; 利用枢轴带动偏心轮枢转,可使偏心轮改变抵顶活 动板之状态,使其经连动杆同步带动活动上座下降 ,此时压板亦随之往复下压于各晶片测试座之二侧 ,藉以使晶片测试座形成夹持或松脱晶片之不同状 态,以便于操作者快速取、放晶片者。2.如申请专 利范围第1项所述之晶片测试机改良结构,其中该 活动板之底侧设有复数复位弹簧抵顶于固定下座, 藉由各复位弹簧之弹力可使偏心轮连动其它活动 上座、压板回复至原位者。3.如申请专利范围第2 项所述之晶片测试机改良结构,其中该枢轴端部设 有一拨杆,以供使用者拉动而驱动该偏心轮者。4. 如申请专利范围第2项所述之晶片测试机改良结构 ,其中该枢轴系衔接至一气压缸者。图式简单说明 : 第1图系习见晶片测试装置之结构说明图。 第2A图系习见晶片测试装置之晶片置入动作图(一) 。 第2B图系习见晶片测试装置之晶片置入动作图(二) 。 第3图系本创作之构造示意图。 第4A图系本创作之晶片置入动作示意图(一)。 第4B图系本创作之晶片置入动作示意图(二)。