| 主权项 |
1.一种协助监测建筑物的方法,其中一手提终端(50) 系供操作员记录关于建筑物的资料,该手提终端包 括: 一使用者介面,包括一绘图介面,其包括一触摸式 萤幕(50b)及一触点装置51,以显示建筑物视图及一 输入关于操作员在建筑物上所观察到的资料; 一记忆体(56),具有一建筑物数据资料库,其中建筑 物资料库包括数个定义显示于绘图介面上之建筑 物视图的档案,分别关于数个出现在建筑物上之缺 陷类型的数据结构,及数个先前于建筑物上所观察 到之缺陷的描述性数据,该描述性数据系根据相关 的数据结构构成;及 控制及处理装置(SCRI),使操作员从建筑物的数据资 料库控制建筑物视图的显示,以管理关于观察缺陷 的资料输入并且更新缺陷的描述性数据; 其中,当操作员选择缺陷类型时,控制及处理装置( SCRI)连同相关的数据结构与操作员对话以输入数 个描述缺陷的参数,用以在绘图介面所示的建筑物 视图上表示出缺陷,并且更新缺陷描述性数据。2. 根据申请专利范围第1项之方法,其中手提式终端 的使用者介面包括数个绘图工具以在绘图介面所 示之建筑物视图上绘制缺陷。3.根据申请专利范 围第1项之方法,其中绘制缺陷的绘图工具包括一 输入装置及一在触摸式萤幕上绘图的装置。4.根 据申请专利范围第1项之方法,其中显示于绘图介 面上之建筑物视图包括数个建筑物面的平面图。5 .根据申请专利范围第4项之方法,其中建筑物面的 平面图包括数个建筑物展开面的平面图。6.根据 申请专利范围第4项之方法,其中该面其中至少一 个系关于数个代表显示于该面视图上之面区域的 数据结构,其中定义区域的一或多个属性。7.根据 申请专利范围第6项之方法,其中该面其中至少一 些系关于数个代表显示于该面视图上之面区域的 数据结构,而且与缺陷分析的演算法有关。8.根据 申请专利范围第7项之方法,其中执行面的缺陷分 析演算系包括考虑关于数个记录于相关面区域内 之缺陷特征的条件。9.根据申请专利范围第6项之 方法,其中定义至少一面区域之区域的属性系包括 数个影响记录于面区域内之缺陷的描述性参数的 属性。10.根据申请专利范围第4项之方法,其中手 提电脑系设有与拍摄照片装置(58)连通的装置,及 处理照片以重叠至少一由拍摄照片装置(58)在建筑 物至少一面的平面上所拍摄的照片重叠的装置。 11.根据申请专利范围第10项之方法,其中处理照片 的装置系与决定拍摄照片装置(58)相对于建筑物的 位置及/或方位的装置结合。12.根据申请专利范围 第10项之方法,其中处理照片的装置经过设置,使由 拍摄照片装置(58)所拍摄之照片依照包括用于拍照 之焦距的光学参数的函数,发生几何变形。13.根据 申请专利范围第10项之方法,其中处理照片的装置 经过设置,使由拍摄照片装置(58)所拍摄之照片藉 由在照片上观察到建筑物特定点的位置的插値法, 发生几何变形。14.根据申请专利范围第10项之方 法,其中处理照片装置经过设置,并列数个由拍摄 照片装置(58)所拍摄的照片,重叠在面的至少一视 图上。15.根据申请专利范围第1项之方法,其中操 作员被给予一可以连接手提式终端(50)之一外接埠 (59)的拍摄照片装置(58),以及当操作员在选择缺陷 类型后利用拍摄照片装置(58)拍照时,更新过之缺 陷的描述性数据与对应照片档案结合。16.根据申 请专利范围第1项之方法,其中建筑物资料库包含 的数据结构系包括数个关于数个以点表示的数据 结构,数个关于以线表示之缺陷的数据结构,及数 个关于以平面表示之缺陷的数据结构。17.根据申 请专利范围第1项之方法,其中建筑物资料库系包 括数个维修数据以指示操作员数个在建筑物上进 行的维修操作。18.根据申请专利范围第1项之方法 ,其中经过更新之缺陷的描述性数据系合并于观察 资料库(MYKE),以及一分析软体(CHAM)系处理观察资料 库(MYKE)以助于分析记录之后准备分析报告。19.根 据申请专利范围第18项之方法,其中观察资料库( MYKE)及分析软体(CHAM)系安装于有别于手提式终端( 50)的电脑(40)。20.根据申请专利范围第19项之方法, 其中电脑(40)具有一显示单元,该显示单元可以经 过控制以显示记录于面上的可能缺陷的方式,显示 至少部分及以重叠方式显示建筑物的数个相同形 状的不同面。21.根据申请专利范围第20项之方法, 其中以重叠方式显示之不同面的至少一个系相对 于其它形状相同但大小不同的面产生数学上的变 形。22.根据申请专利范围第18项之方法,其中建筑 物资料库所包含之数据结构系包括数个关于以线 表示之缺陷的数据结构,以及分析软体(CHAM)经过设 置以显示包括数个二度空间缺陷表述的建筑物部 分三度空间视图,其系由以线表示之缺陷的描述性 参数而得。23.根据申请专利范围第18项之方法,其 中建筑物资料库所含之数据结构系包括数个关于 数个以平面表示之缺陷的数据结构,而且分析软体 (CHAM)经过设置,显示包括数个三度空间之缺陷表述 的建筑物部分三度空间视图,其系由以平面表示之 缺陷的描述性参数而得。24.根据申请专利范围第 18项之方法,其中分析软体(CHAM)经过设置,从对应数 个记录于建筑物面上之裂痕的缺陷描述性参数决 定应力消失线()。25.根据申请专利范围第24项之 方法,其中分析软体(CHAM)经过设置,在建筑物面的 视图上标示应力消失线()。26.根据申请专利范 围第24项之方法,其中缺陷的描述性参数条包括记 录于建筑物面上之"裂痕"类型之每个缺陷的裂痕 宽度,而且其中分析软体(CHAM)经过设置以测定沿着 应力消失线()的裂痕宽度变化。27.根据申请专 利范围第18项之方法,其中观察资料库(MYKE)系为一 或多个建筑物的资料库,并且是关于更多建筑物的 另一资料库(KEPH),使用特定装置来限制其它资料库 (KEPH)的使用权。28.根据申请专利范围第18项之方 法,其中分析软体(CHAM)经过设置,从更新过的缺陷 描述性数据产生在建筑物至少一部份上观察到之 缺陷的长条图。29.根据申请专利范围第18项之方 法,其中每个与缺陷类型有关的数据结构也与造成 缺陷的原因有关。30.根据申请专利范围第29项之 方法,其中建筑物资料库所含的数据结构及相关原 因系从一般缺陷资料库(KHEO)取出。31.根据申请专 利范围第30项之方法,其中数据结构及相关原因系 从一般缺陷资料库(KHEO)选出至少数个建筑物类型 指示。32.根据申请专利范围第29项之方法,其中分 析软体(CHAM)经过设置,从更新过的缺陷描述性参数 产生关于在建筑物至少一部份上观察到之缺陷类 型的数据结构的原因长条图。33.根据申请专利范 围第18项之方法,其中分析软体(CHAM)系处理数个由 建筑物上观察到之缺陷的描述性参数所执行的选 择操作,选择操作包括由配有分析软体的处理电脑 (40)下令选择,并且由不同于处理电脑的中央伺服 器(10)处理选择命令。34.根据申请专利范围第33项 之方法,其中由中央伺服器(10)接收之至少一选择 命令只有在建筑物之更新缺陷描述性数据已经由 处理电脑(40)传送至中央伺服器时执行处理。35.根 据申请专利范围第1-34项任一项之方法,其中从建 筑物上利用绘图介面输入及记录的资料系包括数 个关于建筑物材料之或一部份建筑物,建筑物的环 境或其利用与操作的条件等特征。36.一种协助监 测建筑物之手提式终端,其包括: 一使用者介面,包括绘图介面,其包括一触摸式萤 幕50b及一触点装置51,以显示建筑物视图及一输入 关于操作员在建筑物上所观察到的资料; 一记忆体(56),具有一建筑物数据资料库,其中建筑 物资料库包括数个定义显示于绘图介面上之建筑 物视图的档案,分别关于数个出现在建筑物上之缺 陷类型的数据结构,及数个先前于建筑物上所观察 到之缺陷的描述性数据,该描述性数据系根据相关 的数据结构构成;及 控制及处理装置(SCRI),使操作员从建筑物的数据资 料库控制建筑物视图的显示,以管理关于观察缺陷 的资料输入并且更新缺陷的描述性数据; 其中,控制及处理装置(SCRI)为回应操作员所做的缺 陷类型选择,启动与操作员对话以经由相关的数据 结构输入数个描述缺陷的参数,利用所输入的描述 性参数在绘图介面所示的建筑物视图上标示出缺 陷,并且更新描述缺陷的数据。37.根据申请专利范 围第36项之手提式终端,其中使用者介面包括数个 退图工具以在绘图介面所示之建筑物视图上绘制 缺陷。38.根据申请专利范围第37项之手提式终端, 其中绘制缺陷的绘图工具包括一输入装置及一在 触摸式萤幕上绘图的装置。39.根据申请专利范围 第36项之手提式终端,其中显示于绘图介面上之建 筑物视图包括数个建筑物面的平面图。40.根据申 请专利范围第39项之手提式终端,其中该面其中至 少一个系关于数个代表显示于该面视图上之面区 域的数据结构,其中定义区域的一或多个属性。41. 根据申请专利范围第40项之手提式终端,其中该面 其中至少一些系关于数个代表显示于该面视图上 之面区域的数据结构,而且与面区域内所记录之数 个缺陷特征的缺陷分析演算法有关。42.根据申请 专利范围第40项之手提式终端,其中定义至少一面 区域之区域的属性系包括数个影响记录于面区域 内之缺陷的描述性参数的属性。43.根据申请专利 范围第39项之手提式终端,其更包括一拍摄照片装 置(58)连通的装置,及一处理照片以重叠至少一由 拍摄照片装置(58)在建筑物至少一面的平面上所拍 摄的照片重叠的装置。44.根据申请专利范围第43 项之手提式终端,其中处理照片的装置系与决定拍 摄照片装置(58)相对于建筑物的位置及/或方位的 装置结合。45.根据申请专利范围第43项之手提式 终端,其中处理照片的装置经过设置,使由拍摄照 片装置(58)所拍摄之照片依照包括用于拍照之焦距 的光学参数的函数,发生几何变形。46.根据申请专 利范围第43项之手提式终端,其中处理照片的装置 经过设置,使由拍摄照片装置(58)所拍摄之照片藉 由在照片上观察到建筑物特定点的位置的插値法, 发生几何变形。47.根据申请专利范围第36项之手 提式终端,其更包括一连接拍摄照片装置的外接埠 ,控制及处理装置细经过设置以将经更新之缺陷描 述性数据与与对应拍摄照片装置所拍摄之照片的 图形档案结合。48.一种可由电脑读取之数据承载 器,在该承载器上可记录数个欲载入手提式终端(50 )的软体与资料库模组以协助如申请专利范围第1- 34项任一项之方法中所述之监测建筑物。49.数个 软体与资料库模组,其载入手提式终端(50)以协助 如申请专利范围第1-34项任一项之方法中所述之监 测建筑物。50.一种协助监测建筑物的分析装置,包 括具有观察资料库(MYKE)的处理电脑(40)及一分析软 体(CHAM)以协助如申请专利范围第18-34项任一项之 方法中所述之监测建筑物,从操作员利用手提式终 端更新建筑物面上之缺陷描述性数据来监测建筑 物。51.一种可由电脑读取之数据承载器,在该承载 器上可记录数个欲载入手提式终端(50)的软体与资 料库模组,包括将分析软体(CHAM)及观察资料库(MYKE) 载入处理电脑(40),以协助如申请专利范围第18-34项 任一项之方法中所述之监测建筑物。52.数个软体 与资料库模组,其载入手提式终端(50),包括将分析 软体(CHAM)及观察资料库(MYKE)载入处理电脑(40),以 协助如申请专利范围第18-34项任一项之方法中所 述之监测建筑物。图式简单说明: 第1图系概略显示为完成本发明所用之硬体及软体 之一实施例; 第2a及2b图系显示可以用于完成本发明的缺陷记录 结构之一实施例; 第3a及3b图系显示可以用于完成本发明的原因记录 结构; 第4图系显示在完成本发明时,建筑物元件的表示 模式; 第5图系显示可以用于完成本发明的参数输入窗之 一实施例; 第6图系显示资料库记录中输入参数的情况;及 第7-9图系显示可看见许多裂痕之建筑物面上的图 像表述,其中裂痕可以示于图上以根据本发明之方 法分析建筑物。 |
