发明名称 |
METODO PARA EL ANALISIS CUANTITATIVO DE COMPONENTES ATOMICOS DE MATERIALES POR MEDIO DE MEDICIONES DE ESPECTROSCOPIA LIBS. |
摘要 |
Método para la medición cuantitativa de la concentración de componentes atómicos de materiales sólidos, líquidos o gaseosos, que comprende: a) el análisis espectral de la radiación, emitida por una muestra que incluye una pluralidad de elementos excitados e ionizados de tal manera que generan un plasma; b) el análisis cuantitativo de la radiación emitida; c) el análisis cuantitativo sin calibración de la radiación emitida, en el que dicho análisis cuantitativo incluye: d) la medición de a intensidad de las líneas espectrales emitidas por cada elemento; e) la obtención de la temperatura del plasma (T) a partir de por lo menos una especie de la radiación emitida; caracterizado por f) la determinación de la concentración (Na) de todas las especies multiplicada por un factor de proporción (F); g) el cálculo de la concentración de cada elemento como la suma de las concentraciones correspondientes de la especies; y h) la normalización de cada concentración con respecto a la suma de todas las concentraciones, para eliminar dicho factor de proporción (F).
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申请公布号 |
ES2200517(T3) |
申请公布日期 |
2004.03.01 |
申请号 |
ES19990915670T |
申请日期 |
1999.03.18 |
申请人 |
CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE |
发明人 |
PALLESCHI, VINCENZO;CIUCCI, ALESSANDRO;RASTELLI, SIMONE;TOGNONI, ELISABETTA |
分类号 |
G01N21/71;(IPC1-7):G01N21/71 |
主分类号 |
G01N21/71 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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