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发明名称
METHOD AND APPARATUS FOR REMOTELY TESTING SEMICONDUCTORS
摘要
申请公布号
SG102006(A1)
申请公布日期
2004.02.27
申请号
SG20010005909
申请日期
2001.09.27
申请人
SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES, INC.
发明人
FREDRICK W. CRIST;TIMOTHY J. WAGNER
分类号
H01L21/66;G01R19/25;G06F17/50;G06F19/00;H01L21/00;H01L21/02;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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