发明名称 Strahlführungssystem, Abbildungsverfahren und Elektronenmikroskopiesystem
摘要 Es wird ein Elektronenmikroskopiesystem vorgeschlagen, dessen Objektivlinse (19) ein in einer x-Richtung verlagerbares Feld auf eine feste Strahlachse (17) abbildet. Die Objektivlinse hat eine astigmatische Wirkung, die mit einem Strahlformer (63) auf der festen Achse kompensiert wird. DOLLAR A Ferner werden Linsenkonfigurationen vorgeschlagen, welche selektiv auf den Primärelektronenstrahl oder den Sekundärelektronenstrahl wirken können.
申请公布号 DE10237141(A1) 申请公布日期 2004.02.26
申请号 DE20021037141 申请日期 2002.08.13
申请人 LEO ELEKTRONENMIKROSKOPIE GMBH 发明人 KIENZLE, OLIVER;KNIPPELMEYER, RAINER;UHLEMANN, STEPHAN;HAIDER, MAX;MUELLER, HEIKO
分类号 H01J37/10;H01J37/12;H01J37/145;H01J37/147;H01J37/153;H01J37/244;H01J37/26;H01J37/28;H01J37/305;H01J37/317;H01L21/027;(IPC1-7):H01J37/147 主分类号 H01J37/10
代理机构 代理人
主权项
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