发明名称 Teilchenoptische Vorrichtung und Verfahren zum Betrieb derselben
摘要 Es wird eine Vorrichtung und ein Verfahren bereitgestellt, um wenigstens einen Strahl geladener Teilchen zu beeinflussen. Die Vorrichtung umfaßt zwei zueinander parallel und mit Abstand voneinander angeordnete Reihen von Feldquellelementen 13, welche in Reihenrichtung periodisch mit Abstand d voneinander derart angeordnet sind, daß Symmetrieebenen S existieren, bezüglich welchen die Feldquellelemente 13 symmetrisch angeordnet sind. DOLLAR A Das Feld weist eine in x-Richtung verlagerbare Komponente auf. Zu deren Bereitstellung wird an die Feldquellelemente ein Quellstärkenmuster gemäß der Formel F¶1¶(x)=F¶m¶(x)+F¶c¶(x) angelegt, wobei F¶m¶ eine von der Verlagerung x¶o¶ im wesentlichen unabhängige Komponente ist und F¶c¶ eine von x¶o¶ abhängige Korrekturkomponente ist.
申请公布号 DE10237135(A1) 申请公布日期 2004.02.26
申请号 DE20021037135 申请日期 2002.08.13
申请人 LEO ELEKTRONENMIKROSKOPIE GMBH 发明人 KNIPPELMEYER, RAINER
分类号 H01J37/12;G21K1/08;H01J37/14;H01J37/28;H01J37/305;(IPC1-7):H01J37/147;H01J37/317 主分类号 H01J37/12
代理机构 代理人
主权项
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